探针轮廓仪
仪器简介：三维轮廓仪NanoMap-LS
三维轮廓仪NanoMap-LS拥有超大的扫描范围，仅需按下一个按钮即可产生高分辨率的三维和二维图像。
三维轮廓仪NanoMap-LS特点
常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的wan美结合
自动样品台扫描，保证样品精确而快速的扫描测试。使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到 100mm。
在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察。
软件设置恒定微力接触
简单的2步关键操作，友好的软件操作界面
三维轮廓仪的应用
三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度，台阶高度，二维粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三维粗糙度（Sa,Sq,Smax），划痕截面面积，划痕体积，磨损面积，磨损体积，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量。摆脱了以往只能得到二维信息，或三维信息过于粗糙的现状。将轮廓仪带入了另一个高精度测量的新时代。
三维表面轮廓测量和粗糙度测量，即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。
薄膜和厚膜的台阶高度测量
划痕形貌，磨损深度、宽度和体积定量测量
空间分析和表面纹理表征
平面度和曲率测量
二维薄膜应力测量
微电子表面分析和MEMS表征
表面质量和缺陷检测
电脑PentiumIV,USB2.0联接
操作系统WinXP
系统动力需求90-240V，350W
报价：面议
已咨询2035次轮廓仪
报价：面议
已咨询3114次
报价：面议
已咨询839次台阶仪
报价：面议
已咨询179次探针式轮廓仪
报价：面议
已咨询162次探针式轮廓仪
报价：$50000
已咨询309次D系列
报价：面议
已咨询816次台阶仪
报价：面议
已咨询2898次轮廓仪/形貌仪/
晶圆几何形貌测量及参数自动检测机使用高精度高速光谱共焦双探头对射传感器实现晶圆的非接触式测量，结合高精度运动模组及晶圆机械手可实现晶圆形貌的亚微米级精度的测量，该系统适用于晶圆多种材质的晶圆，包括蓝宝石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等；
晶圆几何形貌及参数自动检测机PLS- F1000/ F1002 是一款专门测量晶圆厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等参数的自动晶圆形貌检测及分选机。
晶圆几何形貌及参数红外干涉自动检测机使用高精度高速红外干涉点传感器实现晶圆的非接触式测量，结合高精度运动模组及晶圆机械手可实现晶圆形貌的亚微米级精度的测量，该系统适用于晶圆多种材质的晶圆，包括蓝宝石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等；可以实现的尺寸与结构测量内容包括： 包括 TTV, Bow, Warp, Thickness ， TIR, Sag, LTV(Fullmap 测试)。
专为测量旋转对称样品的表面形貌和透明薄膜的厚度而设计，如金刚石车削光学表面和模塑或抛光的非球面透镜
灵活性和效率 • 测量系统在实验室以及生产环境中均可使用 • 几乎可对任何材料进行测量 • 测量软件直观的用户引导确保了测量过程简单快速 • 无需进行耗时的样品制备（例如，定向、防反射涂层或喷溅涂覆法等） • 短短几秒便可完成表面扫描和 2D 轮廓 • 通过双向扫描之类的功能可进一步加快原本就很高的测量速度
营业执照未审核
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