轮廓仪
轮廓仪
通过无支架导轨模块来完成测量涂层或基底材料的磨耗速率
为什么测试磨损速率？
为了应用来选择**涂层或基底材料，客户有必要不仅仅检测摩擦系数，也需要检测磨损速率。磨损速率测量可以提供可靠的结果，这可以允许客户来决定手否样品能够达到应用需求和样品可以服务的时间。
为什么我需要一款无支架轮廓仪
仅仅无支架导轨模块能够提供精确和可靠的摩擦状况测量。一台带支架的轮廓仪是低可靠性，因为对摩擦表面的不准确测量（结果会3倍高于实际结果）
所以，如果测试是一台带支架的标准轮廓仪会发生什么？
因为不准确的结果，错误的涂层或基底材料会被选择，并且应用会高于预期的功能性的故障或与原始的计算相比较短的工作寿命。
为了高精度的提高摩擦测试结果我们提供不带垫木的轮廓仪
我们的优点：
1.无支架导轨模块可以提高更高精度和可靠的摩擦测试
2.高分辨率（Z方向7.55nm)
3.如果磨损不充分，不移动样品，允许继续在同轨道继续测试
4.和其他摩擦计相比更具竞争优势。
报价：面议
已咨询1150次半导体测试设备
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晶圆几何形貌测量及参数自动检测机使用高精度高速光谱共焦双探头对射传感器实现晶圆的非接触式测量，结合高精度运动模组及晶圆机械手可实现晶圆形貌的亚微米级精度的测量，该系统适用于晶圆多种材质的晶圆，包括蓝宝石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等；
晶圆几何形貌及参数自动检测机PLS- F1000/ F1002 是一款专门测量晶圆厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等参数的自动晶圆形貌检测及分选机。
晶圆几何形貌及参数红外干涉自动检测机使用高精度高速红外干涉点传感器实现晶圆的非接触式测量，结合高精度运动模组及晶圆机械手可实现晶圆形貌的亚微米级精度的测量，该系统适用于晶圆多种材质的晶圆，包括蓝宝石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等；可以实现的尺寸与结构测量内容包括： 包括 TTV, Bow, Warp, Thickness ， TIR, Sag, LTV(Fullmap 测试)。
专为测量旋转对称样品的表面形貌和透明薄膜的厚度而设计，如金刚石车削光学表面和模塑或抛光的非球面透镜
灵活性和效率 • 测量系统在实验室以及生产环境中均可使用 • 几乎可对任何材料进行测量 • 测量软件直观的用户引导确保了测量过程简单快速 • 无需进行耗时的样品制备（例如，定向、防反射涂层或喷溅涂覆法等） • 短短几秒便可完成表面扫描和 2D 轮廓 • 通过双向扫描之类的功能可进一步加快原本就很高的测量速度
▶功率需求：约500W； ▶交流220V±10%，50Hz ▶环境要求：温度：10～30℃； ▶相对湿度：＜85% ▶安装地点无明显振源
营业执照已审核
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