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布鲁克DektakXT台阶仪
品牌:德国布鲁克
型号:DektakXT
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P-170 台阶仪
品牌:美国KLA
型号:P-170
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布鲁克第十代台阶仪DektakXT
品牌:德国布鲁克
型号:DektakXT
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Kosaka 便携式台阶仪
品牌:深圳科时达
型号:Kosaka
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二手 Bruker Dektak XT 台阶仪
品牌:德国布鲁克
型号:Dektak XT
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KOSAKA接触式台阶仪ET150
- 品牌:日本KOSAKA
- 型号: ET150
- 产地:日本
KOSAKA LAB ET 150台阶仪设备特点: KOSAKA ET150基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET150能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 ET 150配备了各种型号,提供了通过程序控制接触力和垂直范围的探头,彩色CCD原位
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台阶仪
- 品牌:日本小坂
- 型号: ET4000
- 产地:日本
仪器简介:Excellent in accuracy, stability and functionality, ET4000 is a fully automatic, most appropriate for measurement of micro figure, step height and roughness of FPD, wafers, hard disks, and other nano-order application. ET4000 series can be selected f
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SJ-310日本三丰表面粗糙度仪
- 品牌:日本三丰
- 型号: SJ-310 178-570-01DC
- 产地:日本
日本三丰表面粗糙度仪SJ-310各的粗度格表示。大型LCD幕窗,易於清晰取。使用控式面板(具抗污性),操作易。任意度定能。按PRINT即可藉由藏式印表列印出量之果(可不同之列印方式)。藏充池,本方便也可收置出器。有富的:自校正能、理、合否判定能、客自行能判定能。型号SJ-310货号平移范围12.5MM测量范围300um(±150um)驱动/检测元件探测仪:178-390/178-395*测头:金刚石(测头半径:5um/2um*)测量力:4mN/0.75mN*探测方式:微感应评定轮廓P,R,DIN4776
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[公开招标]预算703万元 湖南科技大学采购原位拉曼光谱仪
湖南科技大学公开招标原位拉曼光谱仪,基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪,台阶仪、热台偏光显微镜,项目编号:湘财采计[2024]000546号
- 台阶仪
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