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二次离子质谱仪

仪器网>知识百科>二次离子质谱仪 更新时间:2026-02-02 05:06:30

二次离子质谱仪百科

导读
‌二次离子质谱仪(SIMS)‌是一种基于质谱的表面分析技术,通过高能量的一次离子束轰击样品表面,使样品表面的原子或分子吸收能量后溅射出来,形成带电的二次离子。这些二次离子经过质量分析器分析后,可以得到关于样品表面信息的图谱,从而揭示样品表面的化学成分和结构。
目录
1原理知识 2结构参数 3功能作用 4操作使用 5教程说明 6维修保养 7注意事项 8行业标准

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