网络研讨会简介
自1972年以来，Particle Measuring System始终是半导体行业粒子监测领域的引航者，并拥有光散射法粒子监测领域的主要专利。 本次网络研讨会将针对概述颗粒监测技术、其工作原理以及现代半导体制造工艺中的关键应用。PMS诚邀您参加本次网络研讨会，这将是半导体领域从业者或希望复习颗粒检测知识的相关人员的理想之选。
您将通过本次网络研讨会收获：
会议信息
会议主题：浅谈半导体制程环境的颗粒污染
会议时间：7月11日（周五）上午10:00-11:00
会议语言：中文
报名方式
长按上方二维码，进入报名页面后在报名表内正确填写信息并提交，立即注册报名参会。
讲师介绍
主持人
Shan Chuan Shiau, PMS TW总经理
Kim Chin, PMS销售经理
讲师
James Ye, PMS应用经理
Pippen Chen, PMS应用工程师
服务热线：400-081-8020
企业邮箱：pmschina@pmeasuring.com
微信公众号：
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