百特BeNano纳米粒度及Zeta电位分析仪通过成果评价：综合性能国际先进水平

近日，百特BeNano纳米粒度及Zeta电位分析仪成功通过中国分析测试协会的成果评价，专家组一致认定该仪器综合性能达到国际同类产品先进水平，部分技术具有突破性创新。

本次成果评价会由中国分析测试协会技术部主任吴淑琪研究员主持会议，专家组包括中国科学院纳米中心王孝平研究员（组长）、辽宁省分析测试协会刘成雁教授、东北大学教授安希忠、北方工业大学教授陈吉文以及仪器专家赵泰高级工程师。专家组实地考察了研发中心、仪器制造部、质检部、精密加工车间和实验室，对百特持续十六年研发的BeNano仪器及规范的产品质量管理体系给予高度评价。

鉴定会上，董青云总经理向专家组介绍了百特30年的发展历程。产品总监宁辉博士报告了BeNano的研发背景、核心功能、卓越性能及优异市场表现。

成果评价会上，专家们审阅资料、听取报告、现场质询，并查看了仪器运行情况。他们认为，BeNano仪器有以下的创新与优势：

融合动态光散射、电泳光散射、静态光散射等6大光学技术，实现纳米粒径、Zeta电位、分子量、液体折射率、微流变、颗粒浓度等12种关键检测功能。

应用“消光法动态光散射（LEDLS）”技术，实现浓度高达10⁸-10¹⁶个/mL的颗粒数量精准检测；将沉降法技术有机融入纳米粒度仪中，将纳米粒度仪的粒径检测上限大幅扩展至50μm；采用“动静态流动模式”，将粒径分辨率由传统的1:3提升至1:1.3，并可提供绝对分子量Mw、Mn、Mz及分布信息。

“相位分析光散射技术”显著提升低迁移率或高盐环境下的Zeta电位测量精度；“毛细管微量样品池技术”仅需1.5μL样品即可完成粒径检测；“微流变检测技术”能深入表征复杂流体粘弹性；“独特楔形样品池与光斑位置识别技术”实现0.1%精度的液体折射率检测；多角度散射光检测设计，提升灵敏度，支持0.1ppm至40% w/v的宽浓度范围检测。

BeNano纳米粒度及Zeta电位分析仪作为百特自主研发的高端仪器，现已成功应用于国内外医药、科研、食品、化学、纳米材料制造等科研和产业领域，包括哈弗大学、剑桥大学、香港大学等国外名校。目前，该仪器已申请专利19件（授权11件），登记软件著作权1项。

专家经过严格审查与深入讨论，一致给予“国际先进水平”的权威评价！

BeNano纳米粒度及Zeta电位分析仪通过国家级行业协会权威成果评价，是对丹东百特30年坚持自主创新、追求卓越品质的充分肯定。百特将继续深耕颗粒表征领域，以先进的技术、可靠的产品和完善的服务，为用户提供纳米颗粒分析的最佳解决方案。

本文作者：百特市场部 刘懿文