动态光散射纳米粒度及Zeta 电位分析仪 Litesizer DLS系列

三个角度，实时监控，确保粒径更准确

Litesizer DLS 提供了三种不同的检测角度选择，来测量各种各样的样品，同时通过自动角度选择消除误差。 
多角度粒度测量 (MAPS) 测量模式提供了出色的分辨率，支持先进的分析精度。 
我们的连续透光率监控技术是市面上独有的，可在整个测量过程中提供样品行为的实时反馈，为用户提供有关沉降或结块的实时信息。这种实时洞察提高了测量质量和可靠性，使我们的系统成为准确、可靠的颗粒分析最佳选择。

市场领先的 Zeta 电位分析

我们的动态光散射仪器的专利 cmPALS 技术采用独特设计，可消除由老化效应所引起的可重复不确定性。 
此外，Omega 样品池的创新设计大限度地减少了电场的梯度，进一步提高了可重复性 (±3%)。我们的仪器具有业界领先的 zeta 电位测量粒度范围（从 1.3 nm 到 100 µm），可提供最丰富的功能，确保在广泛的应用中获得精确、一致的结果。

Kalliope：测量粒度的基准软件

Kalliope 软件几乎不需要用户培训。 
只需三次点击即可进行测量。我们独特的单页布局提供了输入参数、测量信号和结果的实时概览，让您对所需了解的一切都一目了然。通过预先设置的标准报告和条理清晰的结果摘要，快速访问测量结果。 
如需更详细的分析，请使用可自定义的报告模板、Excel 导出选项和高级分析功能。此外，Kalliope 完全符合 21 CFR Part 11，确保了数据的完整性和合规性。

满足您所需的所有测量模式

利用 Litesizer DLS 701 的颗粒浓度测量模式，增强您的多功能性能，可对单个样本中最多三个不同粒径群体进行免校准浓度分析。无论您使用单角度 DLS 还是 MAPS，此模式均支持更大浓度范围内的单分散和多分散样品。
此外，在精确的波长和测量温度下测量溶剂的折射率（欧洲专利 3 023 770），确保粒度和 zeta 电位结果的最高精度。Litesizer DLS 701 和 DLS 501 能提供高达 ±0.5% 的精确折射率测量。
最重要的是，Litesizer DLS 系列还能提供分子量测量。
 

功能强大的过滤器选项

Litesizer DLS 701 和 501 是市场上为用户提供可在三个角度方向应用的荧光和偏振滤光片之间独特选择的动态光散射仪器。这使其能够进行颗粒浓度分析以及应用过滤器的 MAPS 三角分析或特定的单角度分析 - 允许使用同类仪器无法进行的分析类型（例如量子点的浓度测定）。