BCEIA
北京分析测试学术报告会暨展览会
理学新产品宣讲会
以卓越科技 成就探索之力
2025/09/11 10:00~11:30
中国国际展览中心 顺义馆E3馆- A会议室
尊敬的先生/女士:
您好!
谨代表理学中国,向您致以诚挚的问候与热烈的邀请!
第二十一届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA)即将启幕,作为全球分析测试领域的年度盛会,BCEIA 始终是汇聚前沿技术、链接科研与产业需求的核心平台。值此行业盛典之际,理学中国隆重举行 X 射线价态定量分析(XES)新技术宣讲会,诚邀您拨冗莅临,共鉴价态定量技术的创新进程!
理学中国
x射线发射光谱(XES)是一种化学状态分析方法,通过测量具有高能量分辨率的荧光X射线,可以显示化合物成键状态分布的变化。常规X射线荧光设备并不能分辨价态,主要是由于能量分辨率不足,通常不足以辨别价态变化引起的能级位移。
理学X射线发射光谱仪XES Chimica搭载了新开发的光学系统, 在不使用同步辐射光源的情况下,可以在实验室环境中通过精细测量光谱的化学位移和谱线变化,高精度地评估分析材料的化学状态。该仪器配备了晶体自动转换机制、样品自动转换机制,以及定量分析用软件,具有高操作性和实用性。
01
能力范围|元素覆盖广
覆盖从氧 O 至铀 U,轻重元素一机到位。
02
性能精度|分辨率与可靠性
超高分辨率,能够捕捉价态的细微变化
稳定高重现,结果一致可靠
03
操作体验|数据更省心
软件自动推荐测试参数,数据处理简便,无需进行傅里叶变换
04
场景扩展|从体材料到原位
体材料信息:毫米级面积内,探测深度约 1–1000 μm
宽域适用:目标元素浓度 0.1%–100%
原位充放电:实时监测电极材料价态变化
XES Chimica
2025年9月11日 10:00-11:30
中国国际展览中心顺义馆E3馆-A会议室
场馆内地图
来宣讲会,您将获得
技术原理与光学方案解析:如何在实验室内实现高分辨价态分析
实测案例分享:原位充放电、反应过程追踪与体材料应用示例
用微信扫码或长按识别,报名本次发布会!
席位有限,建议尽早登记以便预留技术交流时段。
适合人群:电池/催化/合成与表征相关的科研与工程人员
由于本次发布会在第21届BCEIA展会现场中,所以预约到访本次发布会,需要先注册第21届BCEIA,注册二维码如下:
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