8月18日 网络讲堂 | X射线分析的应用方向及RoHS检测

研讨会介绍

在本次网络课程中，您将了解到日立EA1400型X射线荧光分析仪的诸多解决方案及应用。其中包括轻元素检测，凹面样品检测，细小异物检测，镀层厚度检测等功能。在有效提高检测能力的同时，高速自动进样器也提高了检测效率。其将帮助您在日常工作中，无论是对应RoHS筛选或其它无损化检测需求都能得心应手。

会议主题：X射线分析的应用方向及RoHS检测

会议时间: 2022-08-18 14:00

主办单位：日立分析仪器（上海）有限公司

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我们的讲师

潘尔超

应用技术&实验室负责人

15年相关行业从业经验，活跃于仪器分析与第三方检测行业。先后任职SGS、SEIKO Nano、日立分析仪器（上海）有限公司。长期从事X射线荧光检测，XRF镀层测厚分析，等离子发射光谱等应用技术工作。

参会指南

一、参会条件
1、免费报名无需任何差旅费用只需要一台电脑或一部手机，网络带宽超过128K。
2、报告专家PPT讲解将实时传送给所有参会者，参会者也可通过文字向报告人提问，报告人在报告结束后统一进行解答。