电子背散射衍射（EBSD）是扫描电子显微镜（SEM）中用于微观结构分析的关键技术，在学术界和工业界都得到了广泛应用。自20世纪90年代初第一批开创性的自动化EBSD系统问世以来，该技术在硬件和软件方面都取得了显著进展，帮助EBSD在速度、空间分辨率和数据质量方面持续提升。然而，由于当前探测器所使用的间接探测方法存在局限性，近年来进展趋于停滞。
本次网络研讨会将介绍我们全新的直接电子探测器（DED）EBSD探测器eWARP，它解决了速度限制问题，同时优化信号探测效率。这一新解决方案采用了一种专为EBSD应用设计的混合像素传感器技术，也就是像素化传感器技术。
我们将探讨这种定制像素化传感器技术的优势和性能，并结合相关应用实例进行说明。无论您是希望提升研究水平，还是希望站在技术前沿，本次网络研讨会都将为您提供宝贵的见解，展示我们的探测器如何重塑EBSD的格局。
加入我们，深入了解更快、更灵敏的EBSD - eWARP！
直播时间
2025年4月29日下午4：00（北京时间）
报名入口
报告人
Dr. Daniel Goran
Product Manager EBSD, Bruker
Dr. Meriem Ben Haj Slama
Application Scientist EBSD, Bruker
图1：镍基高温合金在10kV 12nA下的测试效果图，eWARP使得低电压下超高速EBSD测试成为常态。
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