我们将介绍涉及无制备样品的研究案例，并通过布鲁克全谱EDS 系统，探索比传统能谱能量范围更广的谱图。这个更广谱的谱图包含两个来源：SEM 电子束和来自最新的 布鲁克XTrace 2微区XRF的X射线光束。
作为一种补充分析技术，微区XRF简化了样品制备，甚至可用于分析表面不规则或粗糙的样品。这使其成为对大尺寸、多样化样品进行微米级高空间分辨样品分析的理想解决方案。此外，我们将展示，如何运用基于我们的 XFlash? 7 EDS 探测器的全谱EDS 概念，在 SEM 中将样品信息从厘米级衔接至微米级。我们的研讨会将展示未抛光和未镀层的样品案例，例如形貌复杂、荷电和多层样品，以展示该系统在各种材料上的精度和泛用性。
会议时间
2024年10月24日，下午4：00（北京时间）
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主讲团
Stephan Boehm
Product Manager， Bruker Nano Analytics
Dr. Yang Yang
Application Sciencetist,Bruker Nano Analytics
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