【点播课程】如何提高微电子元件检测性能
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克服分辨率标准-网络研讨会点播
在检查硅片或微电子系统时，你需要看更多吗？你想得到与电子显微镜相似的清晰详细的样本图像吗？
观看这个免费的网络研讨会，了解更多关于强大的成像和对比技术，可以提高您的检查性能。您将了解如何克服分辨率标准，而不需要浸油或转移到SEM，以实现您想要的检测结果。
网络研讨会录音有英文和德文两种版本。
学习要点
强大的成像和对比技术背后的基础原理，将为您提供高分辨率和对比度。
如何成功地将这些技术应用于日常检查工作，而无需浸油或转移到SEM。
了解这些方法的组合如何帮助您提高检查性能。
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