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Happy New Year

来源:布鲁克纳米分析部 更新时间:2024-12-31 15:47:59 阅读量:145
导读:Happy New Year

Happy New Year

尊敬的各位新老朋友们,感谢您一年来的支持与信任。我们期待在新的一年里继续为您提供必要的资讯等更多有价值的内容。

我们珍视每一位客户的声音,因为您的每一条建议都是我们不断进步的动力。如您对我们公众号有任何意见和建议,欢迎留言告诉我们,我们将从中挑选建设性的意见,并为提出宝贵建议的您准备一份小礼品,以表达我们对您反馈的重视和感谢。

愿新的一年为您带来满满的幸福和成功,让我们共同迎接更加精彩的2025年!


       美图分享:全能型平插式能谱仪    




样品:电池材料


QUANTAX FlatQUAD 是一款具有革命性设计的EDS系统。

该系统通过将特有的四通道硅漂移探测器置入SEM极靴和样品之间来得到更大的立体角,具有更高的采集效率,可以在较弱的电子束流下得到更高的计数,进行快速面分析。尤其适合以下特点的样品定量及定性分析:


·       对电子束敏感的材料,如生命科学和生物薄切片样品

·       半导体元器件

·       电池材料(如阳极、阴极颗粒、黑物质等)

·       纳米颗粒和FIB/TEM制备的薄片样品

·       形貌不平整起伏大的样品

·       荷电反映严重的样品(如玻璃和陶瓷等)



                 美图分享:同轴TKD           



样品:矿物样品Oceanic Gabbro


唯一可为业界提供同轴TKD 解决方案的布鲁克,近年来再次提升了其同轴TKD 的仪器能力,全新的第二代TKD 配置独特的磁场矫正模式可以轻松实现1.5 nm 的空间分辨率,同时颠覆性的磷屏设计支持类STEM ?级明场和暗场像的采集。升级的软件功能丰富了原位实验的表征手段,也更加契合纳米材料的分析表征。



 美图分享:

微区X射线荧光光谱micro-XRF on SEM     



样品:PCB


SEM微区-XRF使用X射线源来进行成分分析,可实现痕量元素检测、层厚分析和更高能量特征X射线的探测,拓宽客户SEM EDS的分析能力,并且测试时无需破坏样品,对样品无导电性、平整性等要求。






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