云体验｜飞纳电镜邀您云参观元器件失效分析实验室（文末有彩蛋-芯片免费测）

一般来说，芯片在研发、生产过程中出现错误是不可避免的，哪里出了问题不仅要解决问题，还要思考为什么会出现问题。随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高，失效分析工作也显得越来越重要。

失效分析主要步骤和内容  

• 芯片开封

• SEM 扫描电镜 / EDX 成分分析——飞纳电镜

• FIB 聚焦离子束显微镜

• 定点/非定点芯片研磨——离子研磨

• 镭射切割

• EMMI 侦测

• OBIRCH 应用（镭射光束诱发阻抗值变化测试）

• LG 液晶热点侦测

• X-Ray 无损侦测

• SAM (SAT) 超声波探伤

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 纳问检测服务 

纳问实验室以 “高通量、Z便捷、质量高、服务好” 为宗旨，为客户提供Z 优质的扫描电镜测试服务。提供包括常规扫描电镜形貌 / 能谱检测，SEM 粒径 / 孔洞 / 纤维 / 粗糙度分析。可提供背散射电子像 / 二次电子像 + EDS 能谱分析，同时在配套的功能软件的帮助下，获得更为全面的样品信息。

彩蛋来啦！

本次活动将抽取一名幸运观众，为您免费测样。

测试使用设备：仅限使用飞纳台式扫描电镜

申请方式：需将您的样品图片（.jpg）及拍摄需求（文字信息）及联系方式（单位姓名电话），发送至联系人邮箱

联系人：Jessica

邮箱：jessica.li@phenom-china.com