健实仪器 全自动火焰型原子吸收分光光度计AAS 2800
健实仪器 单石墨炉原子吸收分光光度计AAS 3800
日立 AAS ZA3000 原子吸收分光光度计
紫外-可见分光光度
乙酸乙酯,可用于分光光度测定法;≥99.5%
日立偏振塞曼原子吸收分光光度计,创新永无止境!
ZA3300系列是一款新型火焰原子吸收分光光度计,在确保基本性能(例如:高精度和高灵敏度)的前提下,采用其他原子吸收分光光度计无法实现的技术,提升其性能和可靠性。
特点:
基本性能提升
190nm~900nm全谱采用塞曼背景校正技术,可扣除所有背景干扰(包含结构背景)
全时双光束技术,样品信号和参比信号同时检测,可获得稳定基线(±0.0004Abs)
操作简便可靠
“提升的基本性能”和“新增功能”的实现是基于日立原子吸收分光光度计的直流偏振塞曼校正技术。
所有元素都可实现高可靠性的背景校正,用户可完全通过软件实现相应分析。
分析实例:
火焰法分析糙米中的镉

偏振塞曼校正法的基线稳定性高,即使当糙米中的镉浓度低于0.4 ppm时,也可以采用火焰分析法。
报价:面议
已咨询403次原子吸收分光光度计(AAS)
报价:¥1000000
已咨询323次可见光分光
报价:面议
已咨询939次原子吸收光谱(AAS)
报价:¥168000
已咨询378次分析仪器
报价:面议
已咨询2655次光学仪器
报价:面议
已咨询234次密封性测试仪
报价:面议
已咨询836次原子吸收分光光度计
报价:面议
已咨询186次密封性测试仪
日立紧凑型毛细管电泳DNA测序仪DS3000结构紧凑,同时秉承于日立优异的毛细管及激光检测技术,可轻松完成测序与片段解析。
日立高新磁控溅射器(Hitachi Ion Sputter )MC1000采用了电磁管电极,能够Z大限度地减轻对样品的损坏,并在样品表面涂覆一层均匀粒子。适用于高分辨率的扫描式电子显微镜。
日立高新离子研磨装置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000 )的混合模式带有两种研磨配置: 断面加工:将样品断面研磨光滑,便于表面以下结构高分辨成像。
离子研磨系统使用通过在表面上照射氩离子束引起的溅射效应来抛光样品的表面。样品预处理系统可以用于电子和先进材料等各个领域的研发和质量控制等。
日立高新技术科学公司于2019年3月起,在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”,该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”,通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务,与此同时,凭借不断创新积累的三维测量性能,实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。
标准配备改良过的测量参数自动调整功能,以及简单明了的图形用户界面。因此,即使是刚刚接触SPM的人,或者测量某种全新的样品时,也能取得具有较高再现性的数据。
AFM5100N除了激光检测方式之外,全新的「自检测悬臂」,在保证高分辨表面形貌观察的同时,大大简化了AFM悬臂操作。
AFM5300E是一款环境型原子力显微镜,它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能,可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响。