瑞士Safematic电镜制样设备CCU-010 HV_SP-010高真空离子溅射镀膜仪
瑞士Safematic电镜制样设备CCU-010 LV_CT-010热蒸发镀碳仪
瑞士Safematic电镜制样设备CCU-010 LV_SP-010磁控离子溅射镀膜仪
瑞士Safematic电镜制样设备CCU-010 HV_CT-010高真空热蒸发镀碳仪
瑞士Safematic电镜制样设备CCU-010 HV高真空离子溅射/镀碳一体化镀膜仪
产品介绍:
日立ArBlade 5000离子研磨系统能够实现高产量,并制备广域横截面样品。
离子研磨系统使用通过在表面上照射氩离子束引起的溅射效应来抛光样品的表面。样品预处理系统可以用于电子和先进材料等各个领域的研发和质量控制等。
与机械抛光不同,离子研磨系统处理样品而不会变形或施加机械应力。因此,用于预处理样品的离子铣削系统的应用范围不断扩大,不仅包括扫描电子显微镜(SEM),还包括原子力显微镜(SPM / AFM)等。离子铣削系统应用范围广泛,日立高新收集了用户在各种领域提供的关键性建议和改进,并将它们纳入到最 新的设计平台。
新推出的ArBlade 5000具有混合研磨功能,能够进行横截面研磨,是日立离子研磨系统的独 家标志。此功能使样品能够根据所需的目的和应用进行预处理。
ArBlade 5000还具有PLUS II离子枪技术设计。这是一种新的氩离子枪,可以实现了1mm/hr以上的截面铣削速度(日立高新的IM4000Plus型号的两倍)。新系统使用户能够在比以前更短的时间内准备横截面,包括陶瓷和金属等硬质材料,这往往需要较长的加工时间。
此外,日立高新开发了全新的宽区域横截面研磨,以实现横截面研磨,最 大研磨宽度为8mm,从而可以制备比以往更大的截面样品。通过与下一代氩离子枪的协同效应,新的ArBlade 5000可以与市场上可用的任何其他离子系统一起制备广域横截面样品。
主要特点
1.能够进行横截面和平面的混合研磨系统。
2.通过PLUS II离子枪技术设计高速氩离子枪实现1mm/hr或更高的横截面研磨速度。
3.通过使用广域横截面研磨,实现最 大宽度达8mm的广域加工。
4.基于采用LCD触摸面板的全新控制系统,增强了可操作性。
报价:面议
已咨询1782次制样设备
报价:面议
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报价:面议
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报价:¥1500000
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报价:面议
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报价:面议
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报价:€30
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日立紧凑型毛细管电泳DNA测序仪DS3000结构紧凑,同时秉承于日立优异的毛细管及激光检测技术,可轻松完成测序与片段解析。
日立高新磁控溅射器(Hitachi Ion Sputter )MC1000采用了电磁管电极,能够Z大限度地减轻对样品的损坏,并在样品表面涂覆一层均匀粒子。适用于高分辨率的扫描式电子显微镜。
日立高新离子研磨装置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000 )的混合模式带有两种研磨配置: 断面加工:将样品断面研磨光滑,便于表面以下结构高分辨成像。
离子研磨系统使用通过在表面上照射氩离子束引起的溅射效应来抛光样品的表面。样品预处理系统可以用于电子和先进材料等各个领域的研发和质量控制等。
日立高新技术科学公司于2019年3月起,在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”,该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”,通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务,与此同时,凭借不断创新积累的三维测量性能,实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。
标准配备改良过的测量参数自动调整功能,以及简单明了的图形用户界面。因此,即使是刚刚接触SPM的人,或者测量某种全新的样品时,也能取得具有较高再现性的数据。
AFM5100N除了激光检测方式之外,全新的「自检测悬臂」,在保证高分辨表面形貌观察的同时,大大简化了AFM悬臂操作。
AFM5300E是一款环境型原子力显微镜,它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能,可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响。