产品介绍:
"Regulus系列"是日立高新技术的FE-SEM的全新品牌,包括作为SU8010的后续机型开发的 "Regulus8100" 以及SU8200系列的升级 "Regulus8220" "Regulus8230" "Regulus8240",共4个机型,均实现了分辨率和操作性的强化。
扫描电子显微镜(SEM)被广泛应用于纳米技术,半导体?电子行业,生命科学,材料科学等领域的材料结构观察。近年来,新一代的电子器件应用中受到广泛期待的新型碳材料,高分子材料,复合材料等的研究作为先进科学技术的中坚技术,在全世界范围内受到热捧。扫描电子显微镜广泛用于这些材料的观察?评价,但仅仅具有超高分辨率还远远不够。还要求能在低加速电压下对表面细微结构的观察和高灵敏度的元素分析。除此之外,在长期的研究过程中还追求电镜的性能的持续稳定和信赖性。
本次发布的新品牌 "Regulus系列" 电子光学系统进行了zui优化处理,使得着陆电压在1kV时分辨率较前代机型提高了约20%。"Regulus8220/8230/8240"达到0.9nm,"Regulus8100"为1.1 nm的分辨率。另外,最适合低加速电压下高分辨观察的冷场电子枪可将样品的细节放大,并获得高质量的图片。zui大放大倍率也由之前的100万倍提高到了200万倍。
除此之外,为了能更好的应对不同样品的测试和保持并发挥出高性能,还对用户辅助工能进行了强化,如信号检测系统的操作辅助功能,维护辅助功能等。
主要特点
搭载了色差极小的适合低加速电压高分辨率观察的冷场电子枪
跟前代机型相比分辨率大约提高了20%
(Regulus8220/8230/8240:0.9 nm/1 kV,Regulus8100:1.1 nm/1 kV)
最大倍率从原来的100万倍提高到200万倍*1
用户辅助功能,帮助用户把仪器的高性能完全发挥出来
主要参数
| 名称 | Regulus8100 | Regulus8240/8230/8220 |
|---|---|---|
| 二次电子分辨率 | 0.8 nm(加速电压 15 kV) 1.1 nm(着陆电压 1 kV)*2 | 0.7 nm(加速电压 15 kV) 0.9 nm(着陆电压 1 kV)*2 |
| 加速电压 | 0.5~30 kV | 0.5~30 kV |
| 着陆电压*2 | 0.1~2 kV | 0.01~20 kV |
| 倍率 | 20~1,000,000倍*3 | 20~2,000,000倍*3 |
| 马达台控制 | 3轴自动*4 | 5轴自动 |
*1 仅限 Regulus8240/8230/8220
*2 减速模式观察
*3 127 mm × 95 mm 视野的画面倍率
*4 5轴马达台为选配项
报价:面议
已咨询1635次扫描电镜(SEM)
报价:面议
已咨询601次扫描电镜(SEM )
报价:面议
已咨询2449次场发射
报价:$480000
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报价:面议
已咨询916次场发射扫描电镜SEM4000
报价:¥10000
已咨询1175次场发射扫描电镜
报价:面议
已咨询1188次电子显微镜
报价:面议
已咨询2277次台式扫描电镜
日立紧凑型毛细管电泳DNA测序仪DS3000结构紧凑,同时秉承于日立优异的毛细管及激光检测技术,可轻松完成测序与片段解析。
日立高新磁控溅射器(Hitachi Ion Sputter )MC1000采用了电磁管电极,能够Z大限度地减轻对样品的损坏,并在样品表面涂覆一层均匀粒子。适用于高分辨率的扫描式电子显微镜。
日立高新离子研磨装置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000 )的混合模式带有两种研磨配置: 断面加工:将样品断面研磨光滑,便于表面以下结构高分辨成像。
离子研磨系统使用通过在表面上照射氩离子束引起的溅射效应来抛光样品的表面。样品预处理系统可以用于电子和先进材料等各个领域的研发和质量控制等。
日立高新技术科学公司于2019年3月起,在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”,该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”,通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务,与此同时,凭借不断创新积累的三维测量性能,实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。
标准配备改良过的测量参数自动调整功能,以及简单明了的图形用户界面。因此,即使是刚刚接触SPM的人,或者测量某种全新的样品时,也能取得具有较高再现性的数据。
AFM5100N除了激光检测方式之外,全新的「自检测悬臂」,在保证高分辨表面形貌观察的同时,大大简化了AFM悬臂操作。
AFM5300E是一款环境型原子力显微镜,它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能,可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响。