扫描电子显微镜-量子场发射扫描电子显微镜 SEM4000Pro
电子显微镜-国仪量子扫描电子显微镜SEM3200
孔隙度分析仪 全自动多站
顺磁共振-国仪量子电子顺磁共振波谱仪
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场发射扫描电子显微镜
SEM4000Pro
SEM4000Pro是一款分析型热场发射扫描电子显微镜,配备了高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪。三级磁透镜设计,束流max可达200 nA,在EDS、EBSD、WDS等应用上具有明显优势。标配低真空模式,以及高性能的低真空二次电子探测器和插入式背散射电子探测器,可观察导电性弱或不导电样品。标配的光学导航模式,以及直观的操作界面,让您的分析工作倍感轻松。
丰富的扩展能力
产品优势
应用案例






产品参数
| 关键参数 | 分辨率 | 0.9 nm @ 30 kV,SE |
| 2.5 nm @ 30 kV,BSE,30 Pa | ||
| 1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa | ||
| 加速电压 | 200 V ~ 30 kV(35kV可选) | |
| 放大倍率 | 1 ~ 1,000,000 x | |
| 电子枪类型 | 肖特基场发射电子枪 | |
| 样品室 | 低真空模式 | 最大180 Pa |
| 摄像头 | 双摄像头 | |
| (光学导航+样品仓内监控) | ||
| 行程 | X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm | |
| T: -10°~+70°,R: 360° | ||
| 探测器和扩展 | 标配 | 仓室内电子探测器(ETD) |
| 低真空二次电子探测器(LVD) | ||
| 插入式背散射电子探测器(BSED 五分割,可选配) | ||
| 选配 | 能谱仪(EDS) | |
| 背散射衍射(EBSD) | ||
| 插入式扫描透射探测器(STEM) | ||
| 样品交换仓(4 寸 /8 寸) | ||
| 轨迹球&旋钮板 | ||
| 软件 | 语言 | 中文SEM软件 |
| 操作系统 | Windows | |
| 导航 | 光学导航、手势快捷导航、轨迹球(选配) | |
| 自动功能 | 自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散 |
报价:面议
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S-4800型高分辨场发射扫描电镜(简称S-4800)为日本日立公司于2002年推出的产品。该电镜的电子发射源为冷场,物镜为半浸没式。在高加速电压(15kV)下,S-4800的二次电子图像分辨率为1 nm,这是目前半浸没式冷场发射扫描电镜所能达到的最高水平。该电镜在低加速电压(1kV)下的二次电子图像分辨率为2nm,这有利于观察绝缘或导电性差的样品。S-4800的主要附件为X射线能谱仪。
二手 日立 SEM+EDX 冷场电镜SU8000系列高分辨场发射扫描电镜,其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm,并且在探测器设计上有新的突破,配置了Lower、Up-per和Top三个Everhart-Thornley型探测器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多种信号,实现微区的形貌衬度、原子序数衬度、结晶衬度和电位衬度的观测;结合选配的STEM探测器。
日立SU-8010是日立高新技术的SEM的全新品牌,新品牌 "REGULUS系列" 电子光学系统进行了最优化处理,使得着陆电压在1KV时分辨率较前代机型提高了约20%。另外,最适合低加速电压下高分辨观察的冷场电子枪可将样品的细节放大,并获得高质量的图片。最大放大倍率也由之前的100万倍提高到了800万倍。除此之外,为了能更好的应对不同样品的测试和保持并发挥出高性能,还对用户辅助工能进行了强化。
日本电子扫描电镜JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的钨灯丝扫描电镜。颠覆性的前卫性外观设计还特别吸引眼球。操作改为触摸屏控制,简单化,从此操作电镜非常只能化。
扫描电子显微镜主要用于观察物体的表面形貌像,除此意外,如果配备能谱分析系统,在进行获得样品表面像的时候,还可以对样品的某个定点位置进行元素的半定量分析。根据EDS分析出的元素比例,进行拟合处理,可以大概的判断出样品是什么类型的样品。
SU3900/SU3800 SE系列作为FE-SEM产品,配置超高分辨率与观察能力。此系列突破了传统SEM产品受安装样品尺寸与重量的限制,通过简单的操作即可实现数据采集。可用于钢铁等工业材料,汽车、航空航天部件等超大、超重样品的观察。 此外,SE系列包括4种型号(两种类型,两个等级),满足众多领域的测试需求。用户可以根据实际用途(如微观结构控制:用于改善电子元件、半导体等材料的功能和性能;异物、缺陷分析:用于提高产品品质)选择适合的产品。