电子显微镜-国仪量子扫描电子显微镜SEM3200
产品介绍：
SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。
大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。
SE\BSE\EDS\EBSD等
可快速定位目标样品和感兴趣区域
可实现全自动的采图和拼接，展示超大视野画面
在一个图像中观察到样品的成分和表面信息
双阳极结构设计，提升了低电压下的分辨率和成像质量
在低真空下提供样品表面细节和形貌，软件一键切换真空状态
（*为选配件）
产品特点
（*为选配件）
低电压
碳材料样品，低电压下，穿透深度较小，可以获取样品表面真实形貌，细节更丰富。
毛发样品，在低电压下，电子束辐照损伤减小，同时消除了荷电效应。
低真空
过滤纤维管材料，导电性差，在高真空下荷电明显，在低真空下，无需镀膜即可实现对不导电样品的直接观察。
大视场
生物样品，采用大视场观察，能够轻松获得瓢虫整体形貌及头部结构细节，展现跨尺度分析。
导航&防碰撞
想看哪里点哪里，导航更轻松
标配仓内摄像头，可拍摄高清样品台照片，快速定位样品。
手势快捷导航
可通过双击移动、鼠标中键拖动、框选放大，进行快捷导航
如框选放大：在低倍导航下，获得样品的大视野情况，可快速框选您感兴趣的样品区域，提高工作效率。
采取多维度的防碰撞方案：
1. 手动输入样品高度，精 准控制样品与物镜下端距离，防止发生碰撞；
2. 基于图像识别和动态捕捉技术，运动过程中对仓内的画面进行实时监测；
3.*硬件防碰撞，可在碰撞一瞬间停止电机，减少碰撞损伤。
特色功能
直观反映整个视野的像散程度，通过鼠标点击清晰处，可快速调节像散至最 佳。
自动聚焦
一键聚焦，快速成像。
自动消像散
一键消像散，提高工作效率。
自动亮度对比度
一键自动亮度对比度，调出灰度合适图像。
多种信息同时成像
SEM3200软件支持一键切换SE和BSE的混合成像。可同时观察到样品的形貌信息和成分信息。
快速图像旋转
拖动一条线，图像立刻“摆正角度”。
丰富拓展性
扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。
SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成。
背散射电子探测器
二次电子成像和背散射电子成像对比
背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息。
镀层样品：
钨钢合金样品：
五分割半导体背散射探测器——多通道成像
探测器设计精巧，灵敏度高，采用5分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。
单通道阴影像 成分像
能谱
LED小灯珠能谱面分析结果。
电子背散射衍射
钨灯丝电镜束流大，完全满足高分辨EBSD的测试需求，能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析。
该图为Ni金属标样的EBSD反极图，能够识别晶粒大小和取向，判断晶界和孪晶，对材料组织结构进行精确判断。
应用案例
产品参数
| 型号 | SEM3200A | SEM3200 | ||
|---|---|---|---|---|
| 电子光学系统 | 电子枪类型 | 预对中型发叉式钨灯丝电子枪（灯丝电流3档可调，可显示灯丝更换时间） | ||
| 分辨率 | 高真空 | 3 nm @ 30 kV（SE） | ||
| 4 nm @ 30 kV（BSE） | ||||
| 8 nm @ 3 kV（SE） | ||||
| *低真空 | 3 nm @ 30 kV（SE） | |||
| 放大倍率 | 1-300,000x（底片倍率） | |||
| 1-1000,000x（屏幕倍率） | ||||
| 加速电压 | 0.2 kV～30 kV | |||
| 探针电流 | ≥1.2μA，可实时显示 | |||
| 成像系统 | 探测器 | 二次电子探测器（ETD） | ||
| *背散射电子探测器、*低真空二次电子探测器、*能谱仪EDS等 | ||||
| 图像保存格式 | TIFF、JPG、BMP、PNG | |||
| 真空系统 | 真空模式 | 高真空 | 优于5×10-4 Pa | |
| *低真空 | 5～1000 Pa | |||
| 控制方式 | 全自动控制 | |||
| 样品室 | 摄像头 | 光学导航 | ||
| 样品仓内监控 | ||||
| 样品台配置 | 三轴自动 | *五轴自动 | ||
| 行程 | X: 120 mm | X: 120 mm | ||
| Y: 115 mm | Y: 115 mm | |||
| Z: 50 mm | Z: 50 mm | |||
| / | R: 360° | |||
| / | T: -10°～ +90° | |||
| 能谱仪 | 能谱仪探测器 | 分析型SDD硅漂移电制冷探测器，有效面积≥30 mm2，晶体面积≥50 mm2，高分子超薄窗设计，无需液氮冷却，仅消耗电能 | ||
| 能谱仪能量分辨率 | Mn Ka保证优于129eV | |||
| 元素分析范围 | B5～Cf98 | |||
| 软件 | 语言 | 中文 | ||
| 操作系统 | Windows | |||
| 导航 | 光学导航、手势快捷导航、可自动叠加电镜图片 | |||
| 自动功能 | 自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散 | |||
| 特色功能 | 智能辅助消像散、*大图拼接（选配软件） | |||
| 安装要求 | 房间 | 长 ≥ 3000 mm，宽 ≥ 4000 mm，高 ≥ 2300 mm | ||
| 温度 | 20 ℃～25 ℃ | |||
| 湿度 | ≤ 50 % | |||
| 电气参数 | 电源AC 220 V(±10 %)，50 Hz，2 kVA | |||
报价：面议
已咨询1030次钨灯丝扫描电镜SEM3200
报价：￥1000000
已咨询464次SEM 扫描电子显微镜
报价：面议
已咨询1696次电子显微镜
报价：￥6000000
已咨询422次SEM 扫描电子显微镜
报价：面议
已咨询860次场发射扫描电镜SEM4000
报价：面议
已咨询2387次场发射
报价：￥2000000
已咨询55次SEM 扫描电子显微镜
报价：￥1000000
已咨询273次SEM 扫描电子显微镜
S-4800型高分辨场发射扫描电镜（简称S-4800）为日本日立公司于2002年推出的产品。该电镜的电子发射源为冷场，物镜为半浸没式。在高加速电压（15kV）下，S-4800的二次电子图像分辨率为1 nm，这是目前半浸没式冷场发射扫描电镜所能达到的最高水平。该电镜在低加速电压（1kV）下的二次电子图像分辨率为2nm，这有利于观察绝缘或导电性差的样品。S-4800的主要附件为X射线能谱仪。
二手 日立 SEM+EDX 冷场电镜SU8000系列高分辨场发射扫描电镜，其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm，并且在探测器设计上有新的突破，配置了Lower、Up-per和Top三个Everhart-Thornley型探测器，可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多种信号，实现微区的形貌衬度、原子序数衬度、结晶衬度和电位衬度的观测；结合选配的STEM探测器。
日立SU-8010是日立高新技术的SEM的全新品牌，新品牌 "REGULUS系列" 电子光学系统进行了最优化处理，使得着陆电压在1KV时分辨率较前代机型提高了约20％。另外，最适合低加速电压下高分辨观察的冷场电子枪可将样品的细节放大，并获得高质量的图片。最大放大倍率也由之前的100万倍提高到了800万倍。除此之外，为了能更好的应对不同样品的测试和保持并发挥出高性能，还对用户辅助工能进行了强化。
日本电子扫描电镜JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的钨灯丝扫描电镜。颠覆性的前卫性外观设计还特别吸引眼球。操作改为触摸屏控制，简单化，从此操作电镜非常只能化。
扫描电子显微镜主要用于观察物体的表面形貌像，除此意外，如果配备能谱分析系统，在进行获得样品表面像的时候，还可以对样品的某个定点位置进行元素的半定量分析。根据EDS分析出的元素比例，进行拟合处理，可以大概的判断出样品是什么类型的样品。
SU3900/SU3800 SE系列作为FE-SEM产品，配置超高分辨率与观察能力。此系列突破了传统SEM产品受安装样品尺寸与重量的限制，通过简单的操作即可实现数据采集。可用于钢铁等工业材料，汽车、航空航天部件等超大、超重样品的观察。 此外，SE系列包括4种型号（两种类型，两个等级），满足众多领域的测试需求。用户可以根据实际用途（如微观结构控制：用于改善电子元件、半导体等材料的功能和性能；异物、缺陷分析：用于提高产品品质）选择适合的产品。
营业执照已审核
分享
收藏
沪公网安备 31011502008050号