电子显微镜-国仪量子扫描电子显微镜SEM3200

产品介绍：

SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。

大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。

（*为选配件）

产品特点

（*为选配件）

毛发样品，在低电压下，电子束辐照损伤减小，同时消除了荷电效应。

低真空

过滤纤维管材料，导电性差，在高真空下荷电明显，在低真空下，无需镀膜即可实现对不导电样品的直接观察。

大视场

生物样品，采用大视场观察，能够轻松获得瓢虫整体形貌及头部结构细节，展现跨尺度分析。

导航&防碰撞

手势快捷导航

可通过双击移动、鼠标中键拖动、框选放大，进行快捷导航
如框选放大：在低倍导航下，获得样品的大视野情况，可快速框选您感兴趣的样品区域，提高工作效率。

特色功能

自动聚焦

一键聚焦，快速成像。

自动消像散

一键消像散，提高工作效率。

自动亮度对比度

一键自动亮度对比度，调出灰度合适图像。

多种信息同时成像

SEM3200软件支持一键切换SE和BSE的混合成像。可同时观察到样品的形貌信息和成分信息。

快速图像旋转

拖动一条线，图像立刻“摆正角度”。

丰富拓展性

扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。
SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成。

背散射电子探测器
二次电子成像和背散射电子成像对比

背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息。

钨钢合金样品：

五分割半导体背散射探测器——多通道成像

探测器设计精巧，灵敏度高，采用5分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。