产品介绍:
日立高新技术公司于2016年4月15日在quan球发布了新型扫描电子显微镜——FlexSEM 1000。该产品结构紧凑,占地面积小,但分辨率不输大型电镜,同时操作极其简便,几乎不用培训就可操作。紧凑型设计,分辨率为4 nm。
扫描电子显微镜可对材料的表面进行高倍率观察及高精度元素分析,在纳米技术、生命科学、产品设计研发及失效分析等领域有着广泛的应用。 近年来,扫描电镜观察表面精细结构及元素分析的需求日趋增加,而越来越多的用户希望能在生产线、品保检验线和办公区等有限的空间里使用扫描电子显微镜。因此,体积小、操作简便、分辨率高的扫描电子显微镜备受关注。FlexSEM 1000主机宽450mm、长640mm,相比SU1510型号体积减小52%,重量减轻45%,功耗减小50%,且配备标准化的电源接口。主机与供电单元可分离,安装非常灵活。
FlexSEM 1000采用zui新设计的电子光学系统和高可靠性、高灵敏度的探测器,分辨率高达4nm。FlexSEM 1000有多种自动化功能,操作简便,即便是初次操作者也能快速拍出高质量图像。另外,新开发的导航功能「SEM MAP」可使用各种光学图片或电镜照片进行导航,一键就快速jing准地切换至感兴趣的高倍率视野。
紧凑型VP-SEM FlexSEM 1000
(主机与供电单元可分离)
特点:
a. 通过高灵敏度二次电子探测器,背散射探测器,低真空探测器(UVD*2),实现低加速电压/低真空下高质量图像观察
b. 操作简捷,即使新手也能拍出高质量的图片
c. 新开发的导航功能「SEM MAP」,便于快速锁定视野
d. 大窗口(30 mm2)SDD能谱系统,便于快速分析元素成分*2
*1 设置在桌面时,分离主机和电源箱
*2 选配
| 项目 | 内容 | |
|---|---|---|
| 分解能*3 | 4.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式) 15.0 nm @ 1 kV (SE:高真空模式) 5.0 nm @ 20 kV (BSE:低真空模式) | |
| 加速电压 | 0.3 kV ~ 20 kV | |
| 放大倍率 | 6× ~ 300,000× (底片倍率) 16× ~ 800,000× (显示倍率) | |
| 低真空模式 | 真空范围:6 ~ 100 Pa | |
| 电子枪 | 预对中钨灯丝 | |
| 样品台 | 3-轴自动马达台 X:0 ~ 40 mm, Y:0 ~ 50 mm, Z:5 ~ 15 mm R:360°, T:-15° ~ +90° | |
| zui大样品尺寸 | 直径80 mm | |
| zui大样品高度 | 40 mm | |
| 尺寸 | 主机:450(W) x 640(D) x 670(H) mm 供电单元:450(W) x 640(D) x 450(H) mm | |
| 探测器选配 |
| |
报价:面议
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日立紧凑型毛细管电泳DNA测序仪DS3000结构紧凑,同时秉承于日立优异的毛细管及激光检测技术,可轻松完成测序与片段解析。
日立高新磁控溅射器(Hitachi Ion Sputter )MC1000采用了电磁管电极,能够Z大限度地减轻对样品的损坏,并在样品表面涂覆一层均匀粒子。适用于高分辨率的扫描式电子显微镜。
日立高新离子研磨装置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000 )的混合模式带有两种研磨配置: 断面加工:将样品断面研磨光滑,便于表面以下结构高分辨成像。
离子研磨系统使用通过在表面上照射氩离子束引起的溅射效应来抛光样品的表面。样品预处理系统可以用于电子和先进材料等各个领域的研发和质量控制等。
日立高新技术科学公司于2019年3月起,在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”,该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”,通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务,与此同时,凭借不断创新积累的三维测量性能,实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。
标准配备改良过的测量参数自动调整功能,以及简单明了的图形用户界面。因此,即使是刚刚接触SPM的人,或者测量某种全新的样品时,也能取得具有较高再现性的数据。
AFM5100N除了激光检测方式之外,全新的「自检测悬臂」,在保证高分辨表面形貌观察的同时,大大简化了AFM悬臂操作。
AFM5300E是一款环境型原子力显微镜,它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能,可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响。