XD7500VR Jade FP

XD7500VR Jade FP新系统规格书X射线检测系统 适应场变化的高性价比生产性设备平台

优势

Nordson DAGE开放、透射式X光管

特征分辨率<0.95μm

在zui高160KV管电压，                    3W标靶功率时仍可达到次微米级特征分辨率。

使用Nordson DAGE 133万像素，

10帧/秒的CMOS 平板探ce器，

可实现实时模式影像增强功能，且使用寿命长。

1400倍几何放大倍率，4200倍系统放大倍率

zui大样品尺寸：29”x 22.8”(736 x 580 mm)

保持放大倍率不变的情况下zui大可达到65度倾斜角

23”TFT LCD 显示器

自动检测功能不需具备任何编程技巧

高清晰实时影像

微CT选项

Nordson DAGE, 是唯yi一家专门专注于X射线电子检测的公司，提供Nordson DAGE XD7500VR Jade FP X射线检测系 统，该系统使用zui新平板探ce器技术， 可提供市场主导型，   的清晰实时影像的产品检测。高规格的系统配置，比同类竞争者更为优越。Nordson DAGE开放、透射式X光管具有使用寿命长的灯丝技术，配备133万CMOS平板探ce器，使得该系统在实时的高放大倍率，高解析度X

影像技术领略具备zui高性价比。X光管设计在底部，通过等   线设计操作平台的移动和影像探ce器的倾斜，所有的控制可通过软件简单的点击操作完成，不需要摇杆操作。如此可实现产品的安全无碰撞检测。所有的功能可以简单快捷进行自动检测，而不需要进行复杂的编程技术。

Crystal Clear X-ray Inspection. Nordson DAGE.

XD7500VR Jade FP X射线检测系统

参数

• Nordson DAGE VR950新技术、开放、透射式X光管:

–所有电压均可达到<0.95微米特征分辨率

–zui高电压160KV，标靶功率：3W

–灯丝组件使用寿命长

–自动稳压光管

• 1,400 倍光学放大倍率 (4,200 倍系统放大倍率)

• 简单，无碰撞，高放大倍率，高解析度检测系统：

–在倾斜角度下检测同样具备上述特点

–无摇杆，鼠标点击操作

• zui大样品检测尺寸：29”x 22.8”(736 x 580 毫米)，放大倍率

• zui大检尺寸：20”x 17.5”(508 x 444 毫米)

• 达65度倾斜角检测

–测试点360度环绕旋转检测

–等   操作平台结构保证了可视范围内的影像分辨率。

• 使用寿命长的133万像素(1536*864像素比)CMOS数字探ce器：

–10帧/秒的全息”实时”影像成像系统

–实时影像增强功能

• 16位数字影像处理系统

• 防震动控制处理

• 23”TFT LCD操作显示器

• Nordson DAGE X射线影像操作软件包含如下功能:

–自动或手动进行元器件失效分析，包括BGA和QFN

–简单快捷制作稳定的自动检测程序

–贯穿孔填充百分比计算

–精确的测量功能

–可自动或手动测量芯片内气泡比例

–X影像导航图，方便定位缺陷位置

–使用简单，无需复杂的摇杆操作

• 外壳全封闭式铅屏蔽安全系统

–X射线辐射泄漏量<1μSv/hr

–符合所有的国际标准

• Windows 7 64位操作系统

• 整机1年保修

选项

• 摇杆控制(X,Y 或X,Y & Z)

• 条形码扫描

• 第二年系统保固

• 微CT选项可作为系统订单或单独配置

系统

• 尺寸:57x67x77.5”(宽x长x高)

• 尺寸:1450x1700x1970 mm (宽x长x高)

• 系统质量:1950千克 (4300 磅)

• zui大样品重量:5 千克

• 电源:单相200–230伏, 16安培

• zui大功率:1000 瓦

• 规格更改如有错漏另行通知

设备咨询电话：182 6326 2536（微信同号）；