Apreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。
Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,而不会降低磁性样品性能。传统的高分辨率 SEM 透镜技术分为两类:磁浸没或静电。
FEI S次将两种技术结合到一个仪器中。这样做所产生的成效远远超过任一种镜筒的个体性能。两种技术均使电子束形成细小探针,以提高低电压下的分辨率,并使信号电子进入镜筒。通过将磁透镜和静电透镜组合成一个复合透镜,不但提高了分辨率,还增加了特有的信号过滤选项。静电-磁复合末级透镜在 1 kV 电压下的分辨率为 1.0 nm(无电子束减速或单色器)。
Apreo 拥有透镜内背散射探测器 T1,其位置紧靠样品以便尽可能多地收集信号,从而确保在很短的时间内采集数据。与其他背散射探测器不同,这种快速的探测器始终可保证良好的材料对比度,在导航时、倾斜时或工作距离很短时也不例外。在敏感样品上,探测器的价值凸现出来,即使电流低至几 pA,它也能提供清晰的背散射图像。复合末级透镜通过能量过滤实现更准确的材料对比度以及绝缘样品的无电荷成像,进一步延伸了 T1 BSE 探测器的潜在价值。它还提供了流行选项来补充其探测能力,例如定向背散射探测器(DBS)、STEM 3+ 和低真空气体分析探测器 (GAD)。所有这些探测器都拥有特殊的软件控制分割功能,以便根据需求选择有价值的样品信息。
每个 Apreo 都按标准配备各种用以处理绝缘样品的策略,包括:高真空技术,例如 SmartSCAN™、漂移补偿帧积分(DCFI) 和电荷过滤。对于有挑战性的应用,Apreo 可提供电荷缓解策略。其中包括可选的低真空(最高为 500 Pa)策略,通过经现场验证的穿镜式差分抽气机构和专用低真空探测器,不但可以缓解任何样品上的电荷,还能提供好的分辨率和较大的分析电流。
随着分析技术的使用越来越常规化,Apreo 仓室经过全新设计,以便更好地支持不同的配件和实验。仓室最多容纳三个 EDS/WDS 端口,可实现快速敏感的 X 射线测量、共面EDS/EBSD/TKD 排列并与(冷冻)CL、拉曼、EBIC 和其他技术兼容。
所有这些功能都能通过简单的样品处理和熟悉的 xT UI 获得,节省了新用户和专家级用户的时间。可自定义的用户界面提供了诸多用户指导、自动化和远程操作选项。
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①放大倍数较高,20万~20万倍连续可调; ②具有大景深、大视野、立体影像,可直接观察各种样品的凹凸不平表面,精细结构; ③样品制备简单。
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高分辨,不挑样。长久以来,蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM一直是高分辨力与宽样品适用性的代名词。无论您从事的研究方向是什么,GeminiSEM都可以满足您的需求。创新的电子光学系统和新型样品腔室设计可让您拥有更佳的图像质量、易用性和灵活性。蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力,不依靠浸没式物镜依然可以轻松实现1 kV以下的亚纳米级分辨力。以下内容可以使您进一步了解Gemini电子光学系统的三大独特设计,探索蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM的应用潜能。
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FEI Quanta 250扫描电子显微镜能观察样品表面细微的三维立体结构,具有很强的真实感。可用于观察的样品主要有动、植物的器官和软组织,坚硬样品和生物硬组织,金属和导电样品等。场发射扫描电子显微镜能高效的收集样品电子显微图像、衍射花样、元素分布等有用信息,并能直接进行纳米尺寸的观察和研究,这样便可以对金属或纳米材料在原子尺寸上获得其微结构和缺陷方面信息。 英文名称: sweep electron microscope 主要技术指标: (1)Quanta250可用于不同的真空模式以分析导电及不导电样品并同时收集表征表面形貌和元素衬度信息的二次电子像和背散射像; (2)降低样品制备:低真空/环境扫描可确保对不导电样品及含水样品进行无表面荷电的成像和分析; (3)高真空模式图像分辨率为:二次电子像3.0nm@30kV,8.0nm@3kV,及背散射电子像4nm@30kV; (4)低真空模式图像分辨率为:二次电子像3.0nm@30kV,10nm@3kV,及背散射电子像4.0nm@30kV(低真空下低加速电压性能保证了对不导电 仪器特点: 配有高真空探头、低真空探头和环扫探头,能适应观察不同样品的需求;具有漂移校正的功能;样品导航功能。 管理规定 该仪器属于精密仪器,使用需在平台管理人员参与下进行。