北京华纳微科技有限公司专业维修FEI电镜、维修ZEISS电镜。作为第三方服务提供者,我们具有快速响应的优势,同时我们有大量的备品备件和耗材的储备,对于一般为题经过判断后工程师可以带维修备件直接到现场维修。华纳微科技在北京和上海都有工程师为客户提供服务。
我司现有几台FEI二手场发射电镜出售,功能正常,售后有保障,我司工程师都是在FEI和ZEISS服务多年的工程师,可以提供电镜各种故障的排除和维修,包括软件设置、电光学光路部分的调校和清洗、电路部分的检查维修、真空测量维修等。
在维修技术和经验上,华纳微科技的工程师都是在FEI和ZEISS服务多年的工程师,可以提供电镜各种故障的排除和维修,包括软件设置、电光学光路部分的调校和清洗、电路部分的检查维修、真空测量维修等。
报价:面议
已咨询137次场发射电子显微镜
报价:面议
已咨询6630次透射电子显微镜(透射电镜、TEM )
报价:面议
已咨询97次生命科学仪器
报价:¥500000
已咨询82次二手光学仪器
报价:¥300000
已咨询48次二手仪器
报价:¥300000
已咨询47次二手光学仪器
报价:¥300000
已咨询44次二手光学仪器
报价:¥350000
已咨询60次二手光学仪器
北京华纳微科技有限公司工程师多年的售后服务经验,可提供FEI电镜维修、赛默飞电镜维修,移机搬迁过大量的电子显微镜设备,为SEM移机搬迁、TME移机搬迁、FIB移机搬迁提供良好的技术保障。我们提供定制化设计服务,根据客户使用的要求,开发特殊的电镜。我们不仅提供二手电镜整机,也提供各种部件,可以拆解部件出售,各种电子枪、离子枪、样品台、减震台、探测器、控制器等。
北京华纳微科技有限公司自我研发的国产离子源型号LBT87150完全替代进口FEI17135离子源,保证使用寿命超过1000小时,另有配套的拔出极和抑制极以及光阑等都可以在FEI的FIB上替代进口产品使用,经客户反馈使用效果佳,性价比良好。华纳微自主研发的扫描电镜扫描速率可以达到200M每秒,是普通SEM的10倍。同时经营二手场发射扫描电子显微镜、二手电镜、二手FIB、二手SEM、二手FEM等,专业维修FEI电镜、维修ZEISS电镜等。
①放大倍数较高,20万~20万倍连续可调; ②具有大景深、大视野、立体影像,可直接观察各种样品的凹凸不平表面,精细结构; ③样品制备简单。
北京华纳微科技有限公司自我研发的国产离子源型号LBT87150完全替代进口FEI17135离子源,保证使用寿命超过1000小时,另有配套的拔出极和抑制极以及光阑等都可以在FEI的FIB上替代进口产品使用,经客户反馈使用效果佳,性价比良好。华纳微自主研发的扫描电镜扫描速率可以达到200M每秒,是普通SEM的10倍。同时经营二手场发射扫描电子显微镜、二手电镜、二手FIB、二手SEM、二手FEM等,专业维修FEI电镜、维修ZEISS电镜等。 公司成立以来,一直秉承着让中国人用得起电子显微镜,使用好的电子显微镜的理念。降低设备的运行成本,提高电子显微镜以及FIB的技术性能,揭开电子显微镜以及FIB的神秘面纱,普及电子显微镜以及FIB设备的知识。我们提供定制化设计服务,根据客户使用的要求,开发特殊的电镜。我们不仅提供二手电镜整机,也提供各种部件,可以拆解部件出售,各种电子枪、离子枪、样品台、减震台、探测器、控制器等。
高分辨,不挑样。长久以来,蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM一直是高分辨力与宽样品适用性的代名词。无论您从事的研究方向是什么,GeminiSEM都可以满足您的需求。创新的电子光学系统和新型样品腔室设计可让您拥有更佳的图像质量、易用性和灵活性。蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力,不依靠浸没式物镜依然可以轻松实现1 kV以下的亚纳米级分辨力。以下内容可以使您进一步了解Gemini电子光学系统的三大独特设计,探索蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM的应用潜能。
北京华纳微科技有限公司自我研发的国产离子源型号LBT87150完全替代进口FEI17135离子源,保证使用寿命超过1000小时,另有配套的拔出极和抑制极以及光阑等都可以在FEI的FIB上替代进口产品使用,经客户反馈使用效果佳,性价比良好。华纳微自主研发的扫描电镜扫描速率可以达到200M每秒,是普通SEM的10倍。同时经营二手场发射扫描电子显微镜、二手电镜、二手FIB、二手SEM、二手FEM等,专业维修FEI电镜、维修ZEISS电镜等。
FEI Quanta 250扫描电子显微镜能观察样品表面细微的三维立体结构,具有很强的真实感。可用于观察的样品主要有动、植物的器官和软组织,坚硬样品和生物硬组织,金属和导电样品等。场发射扫描电子显微镜能高效的收集样品电子显微图像、衍射花样、元素分布等有用信息,并能直接进行纳米尺寸的观察和研究,这样便可以对金属或纳米材料在原子尺寸上获得其微结构和缺陷方面信息。 英文名称: sweep electron microscope 主要技术指标: (1)Quanta250可用于不同的真空模式以分析导电及不导电样品并同时收集表征表面形貌和元素衬度信息的二次电子像和背散射像; (2)降低样品制备:低真空/环境扫描可确保对不导电样品及含水样品进行无表面荷电的成像和分析; (3)高真空模式图像分辨率为:二次电子像3.0nm@30kV,8.0nm@3kV,及背散射电子像4nm@30kV; (4)低真空模式图像分辨率为:二次电子像3.0nm@30kV,10nm@3kV,及背散射电子像4.0nm@30kV(低真空下低加速电压性能保证了对不导电 仪器特点: 配有高真空探头、低真空探头和环扫探头,能适应观察不同样品的需求;具有漂移校正的功能;样品导航功能。 管理规定 该仪器属于精密仪器,使用需在平台管理人员参与下进行。