DSR600-PDE单光子探测器 PDE 标定系统
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DSR600-PDE单光子探测器 PDE 标定系统介绍
本系统主要用来测试和评估具有单光子灵敏度的光子计数器/ 探测器的光子探测效率(Photon Detection Efficiency,PDE)。本系统的原理是,稳恒宽带光源经过单色仪分光后输出的单色光进入积分球,积分球将光匀化后通过两个出口分别照射至大光敏面积的标准(定标后的)探测器和待测光子计数器。通过标准探测器定标出入射光功率,并换算出单位时间内照射至标准探测器的光子数,再根据标准探测器与待测光子计数器的面积比例,推算出照射到待测光子探测器光敏区的光子数。同时测量单位时间内待测探测器探测到的光子数(即电脉冲的数量),除以照射到待测光子探测器的光子数,即为PDE。通过改变单色仪的输出波长,即可测量不同波长下光子探测器的PDE,进而画出PDE 随波长的变化曲线。 通过PDE 随波长的变化曲线,可以获得待测光子探测器的光谱响应范围、PDE 峰值波长、PDE 峰值等关键信息。

适用范围:
■ 盖革雪崩光电二极管(G-APD);
■ 单光子雪崩光电二极管(SPAD);
■ 光子计数模式的高增益PMT;
■ 硅光电倍增管(SiPM);
■ 多像素光子计数器(MPPC);
■ 超导单光子探测器。
系统功能 :
■ 全光谱光子探测效率(Photon Detection Efficiency,PDE)
■ 全光谱光谱响应度(Spectral Responsivity,SR)
■ 全光谱外量子效率(External Quantum Efficiency,EQE)
单光子探测器的探测效率DSR600-PDE
产品特点:
■ 以相对较低的成本,实现待测光子探测器的PDE的快速标定或评估。
■ 通过切换光源,可以实现不同波段灵敏的光子探测器/光子计数器的PDE的标定。
配置参数:更多配置说明咨询销售
宽带复色光源 | 可选波长:300-1100nm,可以扩展到2500nm |
数据采集模块 (或带触发频率计数功能的数字示波器) | 时间分辨率:4ns/2ns/1.14ns/800ps/400ps可选 通道:2/4通道可选 采样率:2.5 GS/s 记录长度:10M 输入阻抗:1MΩ,50Ω |
标准探测器 | 硅探测器:300nm-1100nm,附标定证书; 铟镓砷探测器:900nm-1700nm(或者2500nm),附标定证书; |
精密源表 | 高精度源表,电流量程:10nA-1A,电流分辨率100fA,电压源范围0-200V; |
可编程稳压电源 | 双通道0-32V,1mv分辨率。 |
应用测量结果
左图为使用本测试系统测得的某典型SiPM 的PDE 随波长变化的曲线。图中黑色点线、红色虚线、蓝色实线分别表示在给SiPM 施加的过偏压分别为2 伏,3 伏,4 伏时,SiPM 的PDE 随光波长变化的曲线。从图中可以看出,该SiPM 的波长响应范围约为350-900 nm,PDE 的峰值波长约为470nm。随着过偏压的升高,PDE 明显上升,过偏压为4V 时,峰值PDE 达到约14%,但峰位基本不发生变化(保持470 nm 不变)。

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