电子背散射衍射EBSD
电子背散射衍射EBSD
布鲁克 电子背散射衍射仪 EBSD eflash FS
布鲁克 电子背散射衍射仪 EBSD eflash FS
布鲁克 电子背散射衍射仪 EBSD eflash FS
详细介绍
核心参数
产地类别:进口
CCD相机分辨率:640 x 480
极限速度:最快移动速度可达 10mm/s
空间分辨率:1.5 nm
角分辨率:0.2°
QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器,是分析 SEM 中纳米材料的理想化解决方案。原因如下:
提供 1.5 nm 的空间分辨率
在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试
在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案
全自动内置 ARGUS 成像系统
报价:面议
已咨询1191次电子背散射衍射系统(EBSD)
报价:面议
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eWARP 是一款革命性的 EBSD 探测器,采用布鲁克公司专利的直接电子探测技术,大幅提升了 EBSD 的速度与灵敏度,将EBSD技术推向全新高度。从第一性原理出发,布鲁克公司开发了全新混合像素传感器及控制系统,从根本上突破了 EBSD 探测器灵敏度和分析速度的极限,使得 eWARP 成为有史以来采集速度更快、灵敏度更高的 EBSD 探测器。
许多冶金与材料科学 研究都能从直接观察样品在 SEM 内的加热实验中获益。新型 Murano 加热台能够使我们动态地观察样品在加热过程中的相变、再结晶、晶粒生长与氧化现象。