OLS4500实现了无缝观察和测量
【发现】可以迅速发现观察对象
使用光学显微镜的多种观察方法, 迅速找到观察对象
OLS4500采用了白色LED光源, 可以观察到颜色逼真的高分辨率彩色影像。它装有4种物镜, 涵盖了低倍到高倍的大范围观察。OLS4500充分发挥了光学观察的特长, 除了常使用的明视场观察(BF)以外, 还可以使用对微小的凹凸添加明暗对比, 达到视觉立体效果的微分干涉观察(DIC), 以及用颜色表现样品偏光性的简易偏振光观察。此外, OLS4500上还配有HDR功能(高动态范围功能), 该功能使用不同的曝光时间拍摄多张影像后进行合成, 来显示亮度平衡更好、强调了纹理的影像。在OLS4500上您可以使用多种观察方法迅速找到观察对象。
使用激光显微镜,可以观察到光学显微镜中难以观察到的样品影像
OLS4500采用了短波长405 nm的激光光源和高N.A.的专用物镜, 实现了优异的平面分辨率。能以鲜明的影像呈现出光学显微镜中无法看到的观察对象。在激光微分干涉(DIC)模式中还可以实时观察纳米级的微小凹凸。
【接近】迅速发现观察对象,在SPM上正确完成观察
实现了无缝观察,不会丢失观察对象
OLS4500在电动物镜转换器上装配了涵盖低倍到高倍观察的4种物镜, 以及小型SPM单元。在光学显微镜或激光显微镜的50倍、100倍的实时观察中, 由于SPM扫描范围一直显示于视场中心, 所以把观察目标点对准该位置后, 只要切换到探针显微镜, 就能够正确接近观察对象。因此, 只需1次SPM扫描就能获取目标影像, 从而能够提高工作效率并降低微悬臂的损耗。
OLS4500能够根据您的测量目的分析在各种测量模式中获取的影像,并以CSV格式输出测量结果。OLS4500有以下分析功能。
·
截面形状分析(曲率测量、夹角测量)
·
·
粗糙度分析
·
·
形态分析(面积、表面积、体积、高度、柱状值、承载比)
·
·
评价高度测量(指定线、指定面积)
·
·
粒子分析(选项功能)
跟从向导画面的指示, 可轻松操作的6种SPM测量模式
接触模式
控制微悬臂与样品之间作用的排斥力为恒定的同时, 使微悬臂进行静态扫描, 在影像中呈现样品的高度。还可以进行弯曲测量。
装配了激光扫描显微镜,灵活应对多种样品
轻松检测85°尖锐角
采用了有着高N.A. 的专用物镜和专用光学系统(能大限度发挥405 nm 激光性能),LEXT OLS4500 可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。
高度分辨率10 nm,轻松测量微小轮廓
由于采用405 nm的短波长激光和更高数值孔径的物镜, OLS4500达到了0.12 μm的平面分辨率。因此, 可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的光栅读取能力和奥林巴斯独有的亮度检测技术, OLS4500可以分辨出亚微米到数百微米范围内的高度差。此外, 激光显微镜测量还保证了测量仪器的两大指标——“正确性”(测量值与真正值的接近程度)和“重复性”(多次测量值的偏差程度)的性能。
从大范围拼接影像中指定目标区域
高倍率影像容易使视场范围变小,而通过设置,OLS4500的拼接功能多可以拼接625幅影像,从而能够获得高分辨率的大范围视图数据。不仅如此,还可以在该大范围视图上进行3D显示或3D测量。
主机 规格
LSM部分 | 光源、检出系统 | 光源:405 nm半导体激光、检出系统:光电倍增管 | ||
总倍率 | 108~17,280X | |||
变焦 | 光学变焦:1~8X | |||
测量 | 平面测量 | 重复性 | 100x : 3σn-1=0.02μm、50x:3σn-1=0.04μm、20x:3σn-1=0.1μm | |
正确性 | 测量值的±2%以内 | |||
高度测量 | 方式 | 物镜转换器上下驱动方式 | ||
行程 | 10mm | |||
内置比例尺 | 0.8nm | |||
移动分辨率 | 10nm | |||
显示分辨率 | 1nm | |||
重复性 | 100x :σn-1= 0.012μm、50x:σn-1=0.012μm、20x:σn-1=0.04μm | |||
正确性 | 0.2+L/100 μm以下(L=测量长度) | |||
彩色观察部分 | 光源、检出系统 | 光源:白色LED、检出系统:1/1.8英寸200万像素单片CCD | ||
变焦 | 码变焦:1~8X | |||
物镜转换器 | 6孔电动物镜转换器 | |||
微分干涉单元 | 微分干涉滑片:U-DICR、内置偏振光片单元 | |||
物镜 | 明视场平面半消色差透镜5X LEXT专用平面复消色差透镜20X、50X、100X | |||
Z对焦部分行程 | 76 mm | |||
XY载物台 | 100 x 100 mm(电动载物台) | |||
SPM部分 | 运行模式 | 接触模式、动态模式、相位模式、电流模式*、表面电位模式(KFM)*、磁力模式(MFM)* | ||
位移检出系统 | 光杠杆法 | |||
光源 | 659 nm半导体激光 | |||
检出设备 | 光电检测器 | |||
最大扫描范围 | X-Y:大 30 μm x 30 μm、Z:大 4.6 μm | |||
安装微悬臂 | 在盒式微悬臂支架上一键安装。使用微悬臂安装位置调整专用工装夹具预对位,更换支架时无需光学调整。 | |||
系统 | 总重量 | 约440 kg(不包含电脑桌) | ||
I额定输入 | 100-120 V/220-240 V、600 VA、50/60 Hz |
报价:¥500000
已咨询85次奥林巴斯
报价:面议
已咨询1796次工业显微镜
报价:面议
已咨询515次台式电子顺磁共振波谱仪
报价:面议
已咨询2636次原子力显微镜
报价:面议
已咨询658次原子力显微镜
报价:面议
已咨询632次台式扫描电镜
报价:面议
已咨询6817次表面成像
报价:面议
已咨询6368次化学科学
提供适合您样品尺寸的载物台,正方形行程解决了测量相关的困扰和问题。
获取超景深的图像或3D图像 EFI: 即使表面凹凸不平的样品,也可获得整个样品全部聚焦清晰的超景深图像 通过EFI(景深扩展成像)功能,仅需点击一下鼠标,DSX510便可获得整个样品都对焦清晰的图像。
高级的显微观察,便捷的显微操作
OLS4500为您带来最新的解决方案 ________________________________________ 实现纳米级观测的新型显微镜。不会丢失锁定的目标。 电动物镜转换器切换倍率和观察方
人性化高分辨率
新技术,带来了新发现 专用物镜呈现高品质的图像 专为DSX110设计制造的1X、3.6X和10X专用物镜,集合了高数值孔径、长工作距离、优异的像差校正和前所未有照明均匀性等诸多优点。
CIX100奥林巴斯检测系统是专为了需要保持高要求清洁度标准的生产制造商而研发的整体解决方案。依照企业和国际标准对技术清洁度检测数据进行快速采集、处理和存档。该系统方便直观的软件可引导用户完成每一步流程
小行程-Vertex系列 测量行程(XY):250x160 mm-315x315 mm 测量高度(Z):160-250 mm 适用于航空航天,军工,连接器,电子行业,O形环等行业,可与探针系统,激光