KLA Zeta-20 白光共聚焦显微镜
Sensofar白光干涉共聚焦显微镜
KLA白光共聚焦显微镜轮廓仪ZETA-20
西班牙Sensofar 3D白光干涉共聚焦显微镜S lynx 2
激光扫描共聚焦显微镜
激光白光共聚焦显微镜
日本Lasertec公司推出了Optelics Hybrid 混合共焦显微镜,将激光和白光源组合在一体,用于多功能高性能共聚显微镜.两组共焦光学器件与附加器件相结合,包括干涉仪,微分干涉对比观察和光谱反射膜厚度测量仪。
品牌简介:
日本Lasertec是一家半导体检测设备的公司,成立于1960年,主要提供半导体(晶圆/光罩)与LCD检测设备,与美国半导体设备厂商KLA具有毫不逊色的技术和产品。业界首推出混合激光共聚焦显微镜,基于激光加白光的双光学系统,使其可以满足多种测试需求。
产品特点:
激光加白光双光学系统,具有五大功能。
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OPTELICS HYBRID+是一款结合白光共聚焦和激光共聚焦技术的高性能显微镜,由日本Lasertec制造,集成了微分干涉观察、垂直白光干涉测定、相差干涉测定及反射分光膜厚测定等六项功能。它采用双共聚焦光学系统,确保仅聚焦处的反射光被检测到,从而提高测量精度和效率。该设备能够在一个系统中完成多种测试任务,适用于需要高精度表面形貌分析与膜厚测定的应用场景。
空芯光纤是光通信领域新型传输介质,以空气(或惰性气体 / 真空)为纤芯传输介质,替代传统光纤的玻璃纤芯,核心优势在于突破玻璃介质对光传输的性能限制。
空芯光纤是光通信领域新型传输介质,以空气(或惰性气体 / 真空)为纤芯传输介质,替代传统光纤的玻璃纤芯,核心优势在于突破玻璃介质对光传输的性能限制。
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Bump 3D 检测系统是半导体及电子制造领域的高精度检测设备,核心优势在于亚微米至纳米级测量精度。它依托结构光、激光三角测量等先进技术,可精准捕捉 Bump 高度、直径、共面性等关键参数,高效识别各类缺陷。设备适配 2-12 英寸晶圆及多种基板,广泛应用于半导体封装、SMT 等场景,以超高精度为精密制造质量管控提供可靠保障。
三硼酸锂(LBO)晶体以其高损伤阈值、优异的紫外透过性和良好的物理化学稳定性,在过去几十年中极大地推动了高功率全固态激光器,特别是紫外激光器的发展。它是现代激光工业和技术中不可或缺的关键材料之一,是综合性能好的非线性光学晶体之一。
微型取样机械手是微小物体分析强有力的辅助手段,在显微红外、显微拉曼、XRD、SEM和TEM检测中,经常会遇到微小待测物被覆盖、包埋、粘连等问题,有时候待测位置难以采集信号必须将待测物取出,还有时会因为待测物尺寸小于仪器检测极限带来许多难题,而微区取样仪可以帮助用户轻松解决。