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online双折射/残余应力测量仪KAMAKIRI -X stage
- 品牌：日本Photonic Lattice
- 型号： KAMAKIRI -X stage
- 产地：日本
- 供应商报价： 面议
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北京欧屹科技有限公司
更新时间：2023-08-03 14:42:38 -
企业性质
入驻年限第10年
营业执照
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- online双折射/残余应力测量仪KAMAKIRI -X stage 核心参数
- 详细介绍
KAMAKIRI -X stage
主要特点：STS的低配版，可升级STS 。
操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。
记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。
应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）
树脂成型
玻璃
技术参数：项次
项目
具体参数
1
输出项目
相位差【nm】，轴方向【°】
2
测量波长
543nm（支持客制化）
3
双折射测量范围
0-260nm（支持客制化）
4
主轴方位范围
0-180°
5
测量重复精度
<1nm（西格玛）
6
测量尺寸
A4(标准)
7
定制选项
可定制大载台
此系列产品型号众多，未一一列出，如果您想了解更多产品信息，或者有任何问题想要咨询，请联系我们我们。- 产品优势
- Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片wan美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。
| 仪器种类: | 台式 |
