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日本PHL online残余应力测量仪KAMAKIRI STS-LS

为您推荐
日本PHL online残余应力测量仪KAMAKIRI STS-LS 核心参数
仪器种类: 台式
详细介绍


主要特点:

  • 适用于薄膜等生产线上,实现全长全款的双折射测量。 

  • LIVE实时输出双折射的信息。 

  • OK/NG  可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。 

  • 操作简单,可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 

  • 实时记录双折射的数值数据,以进行进一步详细分析。 

  • 可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 


应用领域

  • 相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC)

  • 保护薄膜(PET/PEN/PS/PI)

  • 树脂成型

  • 玻璃


技术参数

 

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】,轴方向【°】


2

测量波长

543nm(支持客制化)


3

双折射测量范围

0-260nm


4

对应传送速度

约30m/min(支持客制化)


5

测量重复精度

<1nm


6

视野尺寸

全宽全长


7

选配镜头视野

可扩展


8

选配功能

可定制膜宽超过5m的系统























产品优势
Photron集团公司是日本大型相机,视频,软件控制供应商,其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛,欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备,其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片WM结合,研制在线双折射/残余应力测量仪,世界上仅有KAMAKIRI可以提供,广泛应用于光学薄膜,PVA,PC,COP和TAC等领域。
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