非饱和加速老化试验箱,低湿能力出众适用范围广
非饱和加速老化试验箱,低湿能力出众适用范围广
非饱和加速老化试验箱,低湿能力出众适用范围广
非饱和加速老化试验箱,低湿能力出众适用范围广
非饱和加速老化试验箱,低湿能力出众适用范围广
一、产品详情
该试验箱专为需要精确控制低湿环境的加速老化测试而设计,采用非饱和蒸汽控制技术与独立除湿系统,能够在10%~98%RH宽湿度范围内稳定运行,尤其在20%RH以下低湿区域仍保持优异控制精度。箱体结构采用防凝露设计与多层隔热系统,确保在高温高湿与低温低湿切换过程中无结露干扰,真实模拟各类严苛环境。
二、用途
主要用于模拟产品在高温、高湿、低温、低湿等复合环境下的老化过程,评估材料、元器件及整机的耐候性、耐腐蚀性及使用寿命。尤其适用于对湿度敏感、需在低湿条件下进行加速老化的测试场景,如电子封装、密封材料、精密元器件等。
三、技术参数
温度范围:-40℃ ~ +150℃(可扩展)
湿度范围:10%RH ~ 98%RH(低湿区域控制精度±3%RH)
温湿度波动度:温度≤±0.5℃,湿度≤±2.5%RH
均匀度:温度≤±1.5℃,湿度≤±3%RH
内箱容积:80L ~ 1000L(多规格可选)
控制系统:7英寸触摸屏可编程控制器,支持定值/程式运行,带数据记录与USB导出功能
制冷系统:全封闭压缩机,低湿模式下配备专用除湿回路
四、重要性
在传统老化试验中,低湿环境往往难以稳定实现,且易在温湿度切换时产生结露,导致测试数据失真。该设备通过非饱和控制与低湿专用技术,解决了这一行业痛点,使测试结果更接近产品真实使用场景。对于新能源汽车、5G通信、航空航天等对可靠性要求领域,准确的低湿老化数据是产品设计验证与质量把控的关键依据。
五、应用领域
半导体与微电子:封装材料、PCB板、芯片在低湿环境下的可靠性测试
新能源与汽车电子:动力电池管理系统、高压连接器、传感器耐候性验证
高分子材料:胶粘剂、密封件、涂层在干燥高温环境下的老化性能
光学与精密仪器:镜头模组、镀膜器件防干裂、防失效测试
六、产品特点
低湿能力出众:采用双级除湿系统,可在高温(如85℃)条件下稳定维持20%RH以下低湿环境,优于同类产品
无结露干扰:非饱和控制技术,确保温湿度切换过程中样品表面无冷凝水产生
宽域控制:一机覆盖高湿老化与低湿干燥测试,满足多样化标准要求
节能稳定:优化制冷与除湿匹配逻辑,长时间低湿运行能耗更低、稳定性更高
操作智能:支持远程监控、故障自诊断及多段程式编辑,便于批量测试管理
七、满足标准
GB/T 2423.3 / 2423.4(电工电子产品湿热试验)
GB/T 2423.50(高温低湿试验)
IEC 60068-2-38(温湿度组合循环)
JESD22-A101(固态器件稳态温湿度偏压寿命)




报价:面议
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报价:¥145000
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均匀性好:优化的风道结构保证箱内各点环境条件一致,测试重复性高。 操作便捷:配备可编程控制器与触摸屏,支持多种老化模式设定及数据记录。 安全可靠:具备多重保护功能,如超温保护、缺水报警、过载保护等,确保持续运行安全。
操作便捷:配备可编程控制器与触摸屏,支持多种老化模式设定及数据记录。 安全可靠:具备多重保护功能,如超温保护、缺水报警、过载保护等,确保持续运行安全。
高效操作:一键式参数调用,支持多工位独立控制,大幅提升测试效率。 环境模拟:可选配温湿度箱,满足高低温及湿热组合测试需求。 安全可靠:具备过载保护、样品断裂急停、温湿度超限报警功能。
智能高效:自动视觉对位系统,实现一键式装夹,大幅提升测试效率。 环境模拟:宽温域温控系统与高效制冷模块,支持高低温及湿热组合测试。 监测:多通道高速电阻监测,捕捉微秒级断路脉冲,数据可追溯。
多工位并行:标配4~8个独立测试工位,可同时测试不同规格导线,大幅提升测试效率。 数据追溯:自动生成电阻-循环次数曲线、失效报警记录及统计分析报表。
研发验证:对比不同焊料、表面处理工艺及补强设计的抗弯折寿命。 质量控制:批量抽检生产批次,确保制程稳定性。 失效分析:定位焊点开裂位置,结合显微观测剖析失效机理。
数据可追溯与智能化:7英寸触控屏配合PLC控制,支持测试曲线实时显示、历史数据存储与MES系统对接,满足研发与产线双重管理需求。 模块化工装与快速切换:快换式夹具适配不同尺寸的整机、模组或单材料样品,切换时间<5分钟,大幅提升测试效率。
高精度控制:伺服驱动搭配闭环控制系统,弯折角度与速度重复性高 夹具兼容性强:适用于不同厚度、不同尺寸的片状或袋状试样 数据可追溯:具备测试曲线记录、报表生成与权限管理功能,符合实验室与产线质量管理要求