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非饱和加速老化试验箱,LED 光电元件老化评估

¥66251 (具体成交价以合同协议为准)
东莞皓天 广东 东莞 2026-04-23 17:17:49
售全国 入驻:11年 等级:银牌 营业执照已审核
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核心参数

为你推荐

产品特点:

光性能:光通量衰减、色坐标漂移、色温变化、发光效率下降。
电性能:漏电流增大、正向电压偏移、功率异常、绝缘电阻劣化。
结构与封装:胶体黄变 / 开裂、引脚氧化 / 腐蚀、焊点失效、封装气密性下降。

产品详情:

重要性

  1. 加速研发周期:大幅缩短 LED 可靠性验证时间,快速迭代设计与工艺

  2. 质量筛选:剔除早期失效品,降低市场返修率与品牌风险

  3. 寿命预测:基于加速数据外推实际使用环境下的寿命,支撑质保承诺

  4. 标准合规:满足 IES LM-80、LM-84、JESD22-A102E、IEC 60068-2-66 等行业与国际标准要求

  5. 成本优化:提前发现设计 / 材料问题,避免量产阶段大规模返工

应用领域

  • 通用照明:LED 灯珠、COB、模组、吸顶灯、筒灯、路灯

  • 显示背光:电视 / 显示器背光、Mini/Micro LED、显示屏模块

  • 汽车电子:车灯、内饰照明、仪表盘、车载显示

  • 消费电子:手机 / 家电指示灯、穿戴设备 LED、背光组件

  • 特种照明:医疗、工业、植物生长、矿用 / 航海 LED 设备

  • 半导体封装:LED 芯片、封装材料、PCB 基板、连接器可靠性评估

产品特点

  • 非饱和控制:湿度≤85% RH,无凝露,加速水分渗透,更贴近实际失效机理

  • 三参数闭环:温度、湿度、压力独立精确控制,波动小、均匀性好

  • 高效加速:105–147℃高温 + 高压,数天完成数千小时等效老化

  • 安全可靠:超温、过压、缺水、漏电、干烧多重保护,符合压力容器规范

  • 数据化管理:触摸屏 PLC 控制,实时曲线记录,数据 U 盘导出,便于分析与报告

  • 结构耐用:SUS304/316 不锈钢内胆,圆弧设计防结露,保温层高效隔热

产品详情

非饱和加速老化试验箱(HAST/HSAT)是 LED 光电元件可靠性验证的核心设备,通过密闭腔体精确控制高温、高湿、高压的非饱和蒸汽环境,模拟服役条件,快速激发 LED 失效,评估其长期稳定性与寿命。设备由腔体、加热 / 加湿 / 加压系统、控制系统、安全保护与数据采集模块组成,支持单段 / 多段程序运行,适配 LED 研发、试产、量产全流程的可靠性测试需求。

用途

  • LED 芯片、封装、模组、灯具的湿热加速老化与寿命评估

  • 非气密性 LED 器件的耐湿性、密封性、抗离子迁移测试

  • 封装胶、基板、焊料、支架等材料的湿热老化性能对比

  • 验证 LED 在户外、汽车、工业等恶劣环境下的长期可靠性

  • 满足客户与行业标准的可靠性认证测试(如双 85、HAST)

技术参数(典型规格)

表格
参数项指标
温度范围105℃~147℃(非饱和蒸汽)
湿度范围65%~100% RH(可控,典型 85% RH)
压力范围0.05~0.3MPa(表压,约 0.5–3kg/cm²)
温度波动度≤±0.5℃
温度均匀度≤±2.0℃
湿度波动度≤±2.5%RH
升温时间常温→132℃约 40 分钟(空载)
内箱容积标准 45L(可定制)
内胆材质SUS304 不锈钢,圆弧设计
控制系统7 英寸触摸屏 + PLC,可编程运行
安全保护超温、过压、缺水、漏电、干烧、安全阀
符合标准JESD22-A102E、IEC 60068-2-66、JEDEC 等

注意事项

  1. 样品放置:体积不超内箱 2/3,远离加热器 / 箱壁,不遮挡风道,保证气流均匀

  2. 水源要求:必须使用去离子水或电阻率≥0.5MΩ・cm 纯净水,防止水垢与杂质污染

  3. 安全操作:试验中 / 结束后箱内高温高压,严禁强行开门;待压力释放、冷却至安全温度后再开启

  4. 禁止测试:严禁放入易燃、易爆、易挥发、强腐蚀性物品,避免危险与设备损坏

  5. 参数设置:按标准 / 方案设定,避免超温超压;运行中尽量不修改参数,防止凝露与波动

  6. 定期维护:检查水位、密封条、安全阀;清洁内箱、更换滤芯 / 水源,确保长期稳定运行




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