二合一优势：视芯光学T100国产共聚焦干涉仪

将共聚焦显微镜的层析能力与干涉仪的高垂直测量精度相结合，形成了共聚焦干涉测量技术。视芯光学T100作为一款国产共聚焦干涉仪，在一个系统内融合了这两种技术的特性，旨在拓宽仪器的应用范围并提升测量的适应性。

在测量实践中，不同的样品表面可能适合不同的光学测量方法。对于光滑、连续、反射性较好的表面，白光干涉模式通常能快速、高精度地获取大面积的三维形貌。而对于粗糙、陡峭、散射较强的表面，共聚焦扫描模式可能更有助于获得清晰的表面图像。T100允许用户在同一台设备上，根据待测区域的特性，自由选择或组合使用这两种测量原理。

例如，在测量一个既有大面积平坦区域又有深窄沟槽的样品时，用户可以先使用白光干涉模式快速测量平坦区域，再切换到共聚焦模式对干涉光难以到达的沟槽底部进行扫描测量，最后在软件中将数据融合，得到更完整的表面形貌。这种灵活性有助于应对复杂工业零件的检测需求。

T100系统在设计上需要考虑两种模式光路的精密切换与校准，以确保测量数据在同一个坐标系下的准确性。其软件算法也需要能够处理来自不同原理的数据并进行融合分析。这要求设备具有稳定的机械结构和智能化的校准流程。

这种二合一的设计理念，旨在帮助用户减少在不同设备间转移样品、重新对位的时间，在一个平台上完成更多种类的测量任务。对于研发实验室或质检部门而言，这有助于提高设备使用效率，节省空间和成本。视芯光学T100通过整合共聚焦与干涉技术，努力为国内用户提供一种功能集成度较高的表面测量方案选择。