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西班牙Sensofar大视野 3D光学轮廓仪S wide
- 品牌:西班牙Sensofar
- 型号: S wide
- 产地:西班牙
- 供应商报价: 面议
- 北京仪光科技有限公司 更新时间:2023-11-01 18:41:16
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企业性质授权代理商
入驻年限第2年
营业执照已审核
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- 标签: Sensofar大视野 3D光学轮廓仪S wide
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- 详细介绍
S wide 是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积高达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。
一、应用领域:大面积 3D 光学测量系统
先进制造业
考古学与古生物学
消费类电子产品
医疗设备
模塑
光学
钟表业
二、产品优势
1. 亚微米高度可重复性,可扩展整个区域内
2. 无需 Z 轴扫描即可测量高度为 40mm 的单次测量高度
3. 具有极低场失真的双侧远心镜头,提供精确的测量
4. 可追溯性:采用ISO 标准
每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。
5. 与 3D CAD 模型的形状偏差:提供几何差异和公差测量
6. 表面纹理测量仪器的校准
我们的所有系统精心制造,提供准确、可追溯的测量。系统按照符合ISO 25178第 7 部分关于下列参数的指南的可追溯标准进行校准:Z 放大系数、XY 横向尺寸、平面度误差以及偏心度。
- 产品优势
- S wide 是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。
1. 亚微米高度可重复性,可扩展整个区域内
2. 无需 Z 轴扫描即可测量最高 40mm 的单次测量高度
3. 具有极低场失真的双侧远心镜头,提供精确的测量
4. 可追溯性:采用ISO 标准:每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。
5. 与 3D CAD 模型的形状偏差:提供几何差异和公差测量
6. 表面纹理测量仪器的校准:我们的所有系统精心制造,提供准确、可追溯的测量。系统按照符合ISO 25178第 7 部分关于下列参数的指南的可追溯标准进行校准:Z 放大系数、XY 横向尺寸、平面度误差以及偏心度。