PR-33-S 半导体折射仪

PR-33-S半导体行业用折光仪 适用于半导体液态化学品测量。该折光仪外形紧凑，流通池采用改良超纯 PTFE 制成，适用于半导体液态化学品测量。可通过 ¼ 至 1 英寸的皮拉 Pillar 或扩口 Flare 连接。维萨拉 K-PATENTS® 半导体行业用折光仪 PR-33-S 用于晶圆洁净室里的化学品浓度监测，通常被安装在混合、清洗、蚀刻和 (CMP) 等机台上。PR-33-S 包含一个超纯改性 PTFE 流通池主体和一根以太网线，不同标准的以太网供电 (PoE) 开关均可通过以太网线向传感器供电，并将数据传输给计算机。PR-33-S 实时监测化学品浓度，当化学品浓度超出规定范围时，立即通过以太网反馈报警。例如，可通过配置低浓度和高浓度警报来控制和延长溶液使用寿命。这里的浓度通过对溶液折射率 nD 和温度测量来确定。PR-33-S 直接通过喇叭形或pillar配件进行安装。PR-33-S 结构紧凑，不含金属，体积小。

N.I.S.T. 标准下的可追溯校准及验证，采用标准折射率液体和验证程序进行验证

光学核心设计

通过以太网进行数据记录和远程界面操作

标准 UDP/IP 通信

过程温度范围：-20°C – 85°C (-4°F – 185°F)

内置 Pt1000 快速温度测量及自动温度补偿

主要优点：

全数字化设备：维萨拉 K‑PATENTS® 半导体行业用折光仪 PR-33-S 用于过程监控，可提供连续的以太网输出信号，设计紧凑，可直接串接在过程管路上。

满量程下保持精确稳定测量：折光率测量范围 nD 1.3200–1.5300，相当于 0-100%（重量百分比）。对于高浓度 HF，可选范围为 nD 1.2600–1.4700。标称准确度为 R.I.+ 0.0002，通常相当于 0.1%（按重量百分比计），例如，盐酸浓度。测量不受颗粒、气泡、紊流及 PPM 浓度级别微量杂质影响。

易于维护：光学核心设计、无漂移、无需重新校准、无需进行机械调节。