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近场光谱影像分析系统

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近场光谱影像分析系统 核心参数
仪器分类: AFM
详细介绍

近场光谱影像分析系统       

UniDRON-Nano

AFM-NSOM-THz-IR-Raman

• 系统结合后保留原有AFM之功能 

• 可结合之光谱包含拉曼、红外光、太赫兹光、荧光与时间解析荧光光谱

• 可建立正立或倒立以及同时正倒立显微镜 • 雷射照射方式: 穿透、反射以及侧向激发 

• 可同时进行多点探针扫描

近场光谱影像分析系统.png


系统架设:

图片7.png

使用侧面照明的多探头无孔成像(NSOM&THz&IR)


图片8.png

立式和倒置显微镜与两个AFM探针拉曼/ PL / TRPL / NSOM / THz / IR的组合


分析应用:

AFM-NSOM-IR-Raman Performance

图片9.png

图片10.png

图片11.png

图片12.jpg

AFM-IR mapping of low K films


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