普赛斯数字源表集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体,支持四象限工作、微弱电流10pA输出测量、3500V高压下nA级测量、1000A脉冲大电流输出,全系列产品丰富,新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表,相比于传统S系列源表,准确度提升至±0.03%,直流电流升级至3A,可为半导体行业提供更加晶准、稳定的测试方案;电流源源表高精度IV曲线扫描认准普赛斯仪表

产品特点
5寸800*480触摸显示屏,全图形化操作
内置强大的功能软件,加速用户完成测试,如LIV、PIV
源及测量的准确度为0.03%
四象限工作(源和肼),源及测量范围:高至300V,低至3pA
丰富的扫描模式,支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
支持USB存储,一键导出测试报告
支持多种通讯方式,RS-232、GPIB及以太网
技术参数
Z大输出功率:30W,4象限源或肼模式;
源限度:电压源:±10V(≤3A量程),±30V(≤1A量程),±300V(≤100mA量程);
电流源:±3.15安(≤10V量程),±1.05安(≤30V量程),±105mA(≤300V量程);
过量程: 105%量程,源和测量;
稳定负载电容:<22nF;
宽带噪声(20MHz):2mV RMS(典型值),<20mV Vp-p(典型值);
线缆保护电压:输出阻抗30KΩ,输出电压偏移<80uV;
Z大采样速率:1000 S/s;
触发:支持IO触发输入及输出,触发极性可配置;
输出接口:前后面板香蕉头插座输出,同一时刻只能用前或者后面板接口;
通信口:RS-232、GPIB、以太网;
电源:AC 100~240V 50/60Hz;
工作环境:25±10℃;
尺寸:106mm高 × 255mm宽 ×425mm长;
S系列源表应用
分立器件特性测试:电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件;
能量与效率特性测试:LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器;
传感器特性测试:电阻率、霍尔效应等;
有机材料特性测试:电子墨水、印刷电子技术等;
纳米材料特性测试:石墨烯、纳米线等;
激光器特性测试:窄脉冲LIV测试系统;
功率器件:静态测试系统;
电流传感器:动静态参数测试系统;
报价:¥1000
已咨询173次数字源表
报价:面议
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报价:¥1000
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普赛斯插卡式主机采用自定义框架,背板总线带宽高达3Gbps,支持16路触发总线,满足多卡设备高速率通信需求。普赛斯研发了丰富的可供用户选配的子卡,方便用户根据功能性能需求灵活配置不同的子卡。主机对外通信支持串口、以太网及GPIB
采用PXIe通信架构方案,支持板卡灵活扩展与高精度电学特性分析;支持单卡1200V大电压、单卡400A大电流输出,且蕞大可扩展至3500V、2000A;可与探针台(Prober)、分选机(Handler)等外设联机使用,应用于半导体产线KGD、DBC及FT工站的芯片及器件的高效分选测试
具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有卓越的测量效率与可靠性
采用PXIe通信架构方案,支持板卡灵活扩展与高精度电学特性分析;支持单卡1200V大电压、单卡400A大电流输出,且最大可扩展至3500V、2000A;可与探针台(Prober)、分选机(Handler)等外设联机使用,应用于半导体产线KGD、DBC及FT工站的芯片及器件的高效分选测试。
不仅具备IV、CV、跨导等多元化的测试功能,还拥有高精度、宽测量范围、模块化设计以及便捷的升级扩展等显著优势。它能够全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块的静态参数表征和测试需求
武汉普赛斯P系列数字源表汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,Z大脉冲输出电流达30A,Z大输出电压达300V,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中
PMST系列igbt静态测试机igbt检测仪采用普赛斯自主开发的测试主机,内置多种规格电压、电流、电容测量单元模块。结合专用上位机测试软件,可根据测试项目需要,设置不同的电压、电流等参数,以满足不同测试需求。测试数据可保存与导出,并可生成I-V以及C-V特性曲线
用于光通行业的LD、TO-CAN、TOSA、EML以及碟形器件的TEC温度控制、LIV特性曲线、PV特性曲线和特性参数测试,以及光谱特性测试(需要外接光谱仪)。系统集温控器、电流源、电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,体积小、测试速度快、精度高,可以极大的提高器件测试的产量和质量