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JKZC-DH系列综合型探针台

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详细介绍

JKZC-DH系列综合型探针台

产品概要

JKZC-DH系列探针台是一款综合型晶圆测试探针台,可完成12英寸晶圆的电学测试。此系列探针台设备配 置十分丰富,不仅具备龙门架结构和卡盘的升降功能,还具备业内领先的卡盘快速移动技术,可快速定位 样品位置,提高测试效率。另外针座平台具备三段式升降功能,在不失焦的情况下可以使样品和探针做到 快速分离,同时也方便探针卡的使用。此设备在大型实验室或者半导体工厂得到广泛运用,配合对应的仪器仪表,可以完成集成电路/芯片/MEMS器件/PCB元器件/材料器件的IV/CV特性测试/管芯晶圆/LED/LC- D/太阳能电池行业的测试。此系列探针台可以实现1μm以上的Pad电极测试,也可以实现搭载探针卡的测 试。

技术特点

•卡盘可360度快速移动,便于快速定位样品位置,提高测试效率;

•三段式可升降探针座平台,在不失焦的情况下可以使样品和探针做到快速分离;

•加厚级刚性金属框架结构设计,领先的内部防震技术,结构性能稳定。

JKZC-DH系列综合型探针台.jpg


详细参数

产品型号

 技术参数

JKZC-DH6

JKZC-DH8

JKZC-DH12

探针台本体

主体材料

航空铝

航空铝

航空铝

整机尺寸(mm)

750L*550W*680H

800L*580W*680H

930L*700W*680H

重・

75kg

95kg

150kg

卡盘大小

6" ,360度转动,可微调

8",360度转动,可微调

12;360度转动,可微调

卡盘XY轴行程

6"6",精度 10um

8"*8",精度 10um

12"*12"3m 度 10um

卡盘Z轴行程

快速升降5mm,微调升降行程6mm,精度1微米

卡盘材质

不锈钢镀金,具备更小的接触电阻

卡盘气浮移动范围

360度快速移动,便于快速定位,提高测试效率

卡盘吸附方式

真空吸附,可选择环形吸附或者多孔吸附(适用于薄片)

背电极测试功能

卡盘镀金,电学独立悬空,带2个4mm香蕉头插口,具备背电极功能

其它功能

带标准接地保护,可升级

针座平台

材质

U型平台,Q235镀银,带接地端子

大小

最多可放置6个探针座

最多可放置8个探针座 最多可放置12个探针座

三段式升降平台

探针平台可以快速升降,拥有5mm和300um两档,探针平台可以上下微调, 行程25mm,升降精度1um。(使用探针卡的时候使用)

显TH系统

显微镜类型

体式显微镜/视频显微镜/金相显微镜+CCD成像系统

倍率范围

16X~200X/40X~280X/20X~4000X

显微镜行程

具备高刚性龙门架结构,XYZ行程分别为2英寸*2英寸*2英寸,精度lum

CCD成像系统

2k或者4K相机,帧率60fps,带拍照/录像/测量功能等功能

探针座

种类

丝杆型/微分头型/经济型探针座

X¥Z行程

12.5mm-12.5mm-12.5mm

机械精度

0.5um/0.7um/2um

夹具

漏电精度

同轴夹具10pA/H轴夹具lOOfA

接口形式

同轴/三轴/SMA/香蕉头/鳄鱼夹/裸线等接口

其它

选件

屏蔽箱/防震桌/射频/同轴/三轴加热卡盘/探针卡/光电流显微镜/大功率/半自动

电力需求

220W50HZ



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