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相变温度分析仪(PCA)

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详细介绍

相变温度分析仪产品特点

  PCA根据材料相变前后光学性质(反射光功率)有较大差异的特性,在程序控温下,使用一束恒定功率的激光照射样品表面,记录反射光功率变化,形成反射光功率与温度变化曲线,从而确定相变温度。

  PCA采用具有ZG技术的光学系统检测原理,配有高性能的加热及控制系统和人性化的送样组件,仪器性能优越!

  PCA不仅可以检测多种块体材料,还可以检测各种薄膜样品,为客户对材料的研究提供更大的便利和支持!

  PCA是无损检测,不破坏样品,节约成本。


相变温度分析仪应用功能

各种材料相变温度(融化、软化、晶化等)的实时测定

新型材料(相变材料、相变储能材料)的稳定性测试及性能优化

新型相变机理(晶化温度的尺寸效应、材料的结晶动力学过程等)研究


相变温度分析仪技术参数

型号

PCA-300

PCA-1200

PCA-1800

温度范围

RT~300℃

RT~1200℃

RT~1800℃

程序升温重复性偏差

<1.0%

程序升温速率偏差

<1.0%

热膨胀系数测量精密度偏差

<3%

热膨胀系数测量正确度偏差

<3%

最大工作功率

4.0kw

最大升温速度

50℃/s(50℃~1200℃、真空氛围),45℃/s℃/(50℃~1200℃,N₂氛围)

温度一致性

±2.0℃(1200℃,真空),±4.5℃(1200℃,N₂)

制冷要求

水冷

相变薄膜材料检测厚度下限

1.0×10-9m

主机尺寸

540 x 414 x365,单位mm

重量

35kg


相变温度分析仪样品要求

尺寸:长×宽 5x5~20x20,单位mm,厚度2.0mm(含基底)以下为宜

具备光学反射平面


相变温度分析仪创新设计

全新技术设计


● 无需基线,曲线趋势分析

● 无需标样,测算方法

● 无损检测,无需破坏膜层材料结构

简约的光学系统

  1、基于三维调整的光隔离器能够有效保护激光器以及调整激光通路。

  2、搭载聚焦及滤波的传感模块能够有效提高信噪比。


高性能的加热及控制系统

  1、采用高性能长寿命红外加热管进行加热,核心加热区采用抛物反射面设计,确保对样品进行有效全方位加热。

  2、采用PID调节与模糊控制相结合的温控系统,可实现系统的高速跟随控制,可实现最快50℃/s升温速度。


人性化的送样组件

  1、以直线滚珠轴承作为组件支撑及运动导向关联件,确保送样的平稳可靠,行程限垫可有效确保导轨的行程范围。

  2、压迫式弹针接触端子可确保温度传感器的有效接通,同时其弹力可确保设备处于锁紧状态时方可进行加热操作等事宜,避免误操作。

  3、组合隔温挡圈能有效形成前后隔离,确保温场均匀。


产品优势
相变温度分析仪根据材料相变前后光学性质(反射光功率)有较大差异的特性,在程序控温下,使用一束恒定功率的激光照射样品表面,记录反射光功率变化,形成反射光功率与温度变化曲线,从而确定相变温度。并且具有ZL技术的光学系统检测原理,配有高性能的加热及控制系统和人性化的送样组件,仪器性能优越!
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