相变温度分析仪产品特点
PCA根据材料相变前后光学性质(反射光功率)有较大差异的特性,在程序控温下,使用一束恒定功率的激光照射样品表面,记录反射光功率变化,形成反射光功率与温度变化曲线,从而确定相变温度。
PCA采用具有ZG技术的光学系统检测原理,配有高性能的加热及控制系统和人性化的送样组件,仪器性能优越!
PCA不仅可以检测多种块体材料,还可以检测各种薄膜样品,为客户对材料的研究提供更大的便利和支持!
PCA是无损检测,不破坏样品,节约成本。
相变温度分析仪应用功能
各种材料相变温度(融化、软化、晶化等)的实时测定
新型材料(相变材料、相变储能材料)的稳定性测试及性能优化
新型相变机理(晶化温度的尺寸效应、材料的结晶动力学过程等)研究
相变温度分析仪技术参数
型号 | PCA-300 | PCA-1200 | PCA-1800 |
温度范围 | RT~300℃ | RT~1200℃ | RT~1800℃ |
程序升温重复性偏差 | <1.0% | ||
程序升温速率偏差 | <1.0% | ||
热膨胀系数测量精密度偏差 | <3% | ||
热膨胀系数测量正确度偏差 | <3% | ||
最大工作功率 | 4.0kw | ||
最大升温速度 | 50℃/s(50℃~1200℃、真空氛围),45℃/s℃/(50℃~1200℃,N₂氛围) | ||
温度一致性 | ±2.0℃(1200℃,真空),±4.5℃(1200℃,N₂) | ||
制冷要求 | 水冷 | ||
相变薄膜材料检测厚度下限 | 1.0×10-9m | ||
主机尺寸 | 540 x 414 x365,单位mm | ||
重量 | 35kg | ||
相变温度分析仪样品要求
尺寸:长×宽 5x5~20x20,单位mm,厚度2.0mm(含基底)以下为宜
具备光学反射平面
相变温度分析仪创新设计

全新技术设计
● 无需基线,曲线趋势分析 ● 无需标样,测算方法 ● 无损检测,无需破坏膜层材料结构 |
简约的光学系统
1、基于三维调整的光隔离器能够有效保护激光器以及调整激光通路。
2、搭载聚焦及滤波的传感模块能够有效提高信噪比。
高性能的加热及控制系统
1、采用高性能长寿命红外加热管进行加热,核心加热区采用抛物反射面设计,确保对样品进行有效全方位加热。
2、采用PID调节与模糊控制相结合的温控系统,可实现系统的高速跟随控制,可实现最快50℃/s升温速度。
人性化的送样组件
1、以直线滚珠轴承作为组件支撑及运动导向关联件,确保送样的平稳可靠,行程限垫可有效确保导轨的行程范围。
2、压迫式弹针接触端子可确保温度传感器的有效接通,同时其弹力可确保设备处于锁紧状态时方可进行加热操作等事宜,避免误操作。
3、组合隔温挡圈能有效形成前后隔离,确保温场均匀。
报价:面议
已咨询3185次光功率系列
报价:面议
已咨询210次热分析仪
报价:面议
已咨询3527次比表面积及孔径分析仪
报价:面议
已咨询144次鱼类及其他动物
报价:面议
已咨询793次肉品新鲜度测定仪
报价:面议
已咨询758次肉品新鲜度测定仪
报价:面议
已咨询58次水质分析仪
报价:¥150000
已咨询5509次热膨胀仪
可快速测试Seebeck系数,对样品无特殊要求,测量方法稳定可靠
薄膜热电参数测试系统是专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量,测温范围达到81K~700K,采用动态法测量Seebeck系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。
热电参数测试系统采用动态法(具有ZL技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。 热电参数测试系统主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物,以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
霍尔效应测试系统依据范德堡法测量材料的电运输性能参数:载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量),广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。
薄膜变温电阻测试仪采用双电法测量高温、真空、气氛条件下的电阻和电阻率,可以用来分析样品的电阻率随温度变化曲线、电阻温阻系数、样品相变温度点。其广泛用于光电、铁电、热电等各种导电材料的电阻率测量。
薄膜热导率测试系统采用3ω测试方法,有效克服了样品表面热辐射现象,能够良好测试微/纳米薄膜材料的热导率。可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发,涵盖范围包括集成电路散热材料、航空航天材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件等。目前,已赢得了包括ZG科学院上海微系统与信息技术研究所、嘉兴学院以及第三方检测机构等单位一致认可。
薄膜热导率测试系统采用3ω测试方法,有效克服了样品表面热辐射现象,能够良好测试微/纳米薄膜材料的热导率。可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发,涵盖范围包括集成电路散热材料、航空航天材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件等。目前,已赢得了包括ZG科学院上海微系统与信息技术研究所、嘉兴学院以及第三方检测机构等单位一致认可。
光功率热分析仪是世界首台纳米级薄膜材料物性分析仪,填补了国际对纳米级薄膜材料无损检测其相变温度和热膨胀系数的技术空白!不仅可用于检测块体,还可检测低至1nm的薄膜材料。根据材料相变前后光学性质(反射光功率)有较大差异的特性检测材料的相变温度,依据光干涉原理检测透光材料的热膨胀系数,融合了相变温度分析仪和热膨胀系数分析仪的两项功能。