-
-
-
纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
- 品牌：日本日立
- 型号： VS1800
- 产地：日本
- 供应商报价： 面议
-
日立科学仪器（北京）有限公司
更新时间：2024-02-26 14:29:54 -
企业性质生产商
入驻年限第7年
营业执照已审核
- 同类产品光学测量(1件)
联系方式：日立科学仪器400-855-8699转8089
联系我们时请说明在仪器网（www.yiqi.com）上看到的!
-
为您推荐
- 详细介绍
纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800应用光干涉现象，对微细的表面形貌进行测量，可实现高性能薄膜、半导体、汽车零配件、显示器等行业所要求的高精度测量。而且还能以无损伤方式进行多层膜的层结构以及层内部的异物测量。
主要特点：
采用光干涉方式，非接触测量
3D测量支持线粗糙度和面粗糙度测量
自动粗糙度参数选择（ISO25178）
毫米大面积测量
高精度测量（垂直方向分辨率0.01nm）
快速、高重复性测量
多层薄膜和薄膜内层缺陷分析
-
Hitachi VS1800 纳米尺度3D光学干涉测量系统
-
二手 Veeco Wyko NT 进口白光干涉仪
-
二手 TRIOPTICS WaveMaster® PRO 量产型波前测量仪/自动化干涉仪
-
ZYGO Qualifire™ 激光干涉仪
-
德国布鲁克 Dimension IconIR 纳米尺度红外光谱
-
德国布鲁克透射电镜专用原位纳米力学系统PI 95
-
德国布鲁克电镜专用原位纳米力学测试系统PI 88
-
德国布鲁克布鲁克电镜专用原位纳米力学系统 PI 85L
-
美国TA仪器 ElectroForce 3100微尺度测试系统
-
大尺度量热仪—墙角试验
-
MSS微尺度湍流剖面仪
-
IVEA微尺度元素分析 (LIBS 激光诱导击穿光谱仪）
