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影像校正光谱仪 OmniEvo180“优雅型”

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详细介绍

“影像谱王”系列光栅单色仪/光谱仪

“影像谱王”系列光栅单色仪/光谱仪功能及特点:
1.180mm,320mm,500mm等多种焦距可选,适应不同光谱带宽需求;

2.光学结构采用经典的C-T结构和非球面影像校正技术,最大限度了YZ了像散,使得离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置,获得了清晰的成像,从而提高 了信号强度,提升了光谱仪信号收集的能力;

3.多光栅塔台设计,更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势,并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率;

4.光栅采用40×40mm或68×68mm(68×84mm)大面积光栅,提高了光收集效率;

5.适应不同光谱波段使用的光栅选择,覆盖UV-IR全波段范围;针对红外(>1um)波段的zuiyou化设计,光学镜片采用镀金膜设计,提高红外光反射效率;

6.更好的杂散光YZ比,达到1×10-5;

7.仪器的控制(如光栅转换、波长扫描等)全部由计算机控制,并用USB2.0接口取代传统的RS-232接口,不仅使仪器的连接更加简单化,更极大提高了通讯
速率

8.采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性,可根据需要选择双入、出口;双入、出口的控制通过计算机软件自动控制,定位更jing准;

9.可灵活与卓立光源、探测器(单点探测器和阵列CCD等)组合搭建,实现任意光谱系统解决方案,如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等

10.电子快门可选;

11.自动狭缝可选;



规格参数表(@1200g/mm光栅条件下):


Omni-λ180iOmni-λ320iOmni-λ500iOmni-λ750i
焦距(mm)180320500750
相对孔径f/4f/4f/6.5f/9.7
光学结构C-T
机械扫描范围(nm)0-1200
分辨率(nm)-PMT0.250.080.050.028
分辨率(nm)-CCD(26μm)0.350.210.150.09
倒线色散(nm/mm)3.72.31.71.1
波长准确度(nm)±0.2±0.15±0.1
波长重复性(nm)±0.1±0.08±0.01
扫描步距(nm)0.010.0050.0025
杂散光1×10-5
焦面尺寸(mm)30(w)×10(h)30(w)×14(h)
光轴高度(mm)146.5
狭缝规格缝宽:0.01-3mm连续手动可调,可选配自动狭缝;
缝高:2,4,10,14mm可选
光栅尺寸(mm)40×4068×68
光栅台双光栅三光栅
通讯接口标配USB2.0,可选RS-232




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