JEOL JEM-2100Plus 200kV六硼化镧透射电子显微镜

仪器简介：
JEM-2100Plus广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。

JEM-2100Plus搭载 64位 Windows操作界面,操作更简单。并与STEM,EDS,CCD和EELS实现了一体化控制。

JEM-2100Plus高度稳定性的测角台设计先进，非常适于包括3位重构在内的样品台倾斜。选用日本电子专用软件，可以轻松实现3D观察。压电陶瓷控制样品台也独步天下。

TheJEM-2100Plus采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束，大大提高了分析和衍射成像能力。



技术参数（UHR）：
1.点分辨率：0.19nm
2.线分辨率：0.14nm
3.加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角：25



主要特点：
1.五种极靴UHR、HR、HT、HC、CRYO
2.稳定便捷的操作系统
3.最小束斑尺寸：0.5nm
4.良好的扩展性