J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统用于高效分析LIBS光谱和时间分辨ICP-MS信号，分析人员可以在样本图像上编写任意的激光采样模式的程序，包括光栅线、曲线、随机点、任意大小的网格和预先编程的图案，能够快速而准确地识别复杂的LIBS发射峰。特定的搜索标准(波长范围、元素组、等离子体激发状态)可以用来在短时间内缩小搜索范围。TruLIBS?允许用户从Axiom LA软件直接加载实验库LIBS光谱来识别和标记峰值。

微粒冲洗性能：

根据测量目标(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要对样品室的各个性能指标进行优化，指标包括：冲洗时间、颗粒混合、样品室内的流动特性。

产品特点：

1、针对双重LA/LIBS性能而设计的紧凑、模块化系统，J200系统的duchuang性在于其模块化系统的设计；

2、自动调整样品高度，保证激光剥蚀的一致性J200采用了一种自动调高传感器，该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化；

3、具有可互换镶嵌模块的Flex样品室，以优化气流和微粒冲洗性能根据测量目标(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等)。

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统软件中的PCA工具是使用LIBS、质谱或两个光谱对各种样品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等)进行分类或鉴别的理想方法，能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰值强度，揭示不同样品深度处元素组成的变化。DepthTracker?对于确定样品表面的污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别位于其下方的夹杂物是一项非常有价值的功能，可以轻松地估计集成强度和RSD值。同时，时间分辨ICP-MS信号也可以非常流畅，并且可以轻而易举地获得TRSD（时间相对标准偏差）统计学数值。