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UNHT³超纳米压痕测试仪
- 品牌:奥地利安东帕
- 型号: UNHT³
- 产地:奥地利
标准:ASTM E2546 UNHT³ 高精度超纳米压痕测试仪采用真实力传感器和位移传感器,可用于测量材料在纳米尺度下的机械性能。UNHT³ 采用独特的主动表面参比ZG技术,消除了热漂移和框架刚度的影响。因此,非常适用于对所有类型的材料(包括聚合物、纳米涂层和软组织)进行原子到纳米尺度的长时间测量。最精确的纳米压痕测试仪UNHT³ 可测量他人估计的结果:两个独立的位移和载荷传感器可真正可靠地控制力和压入深度。另外,UNHT³ 采用独特的主动表面参比ZG设计:参考参比针尖记录样品的表面位移位置,
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UNHT³Bio生物压痕测试
- 品牌:奥地利安东帕
- 型号: UNHT³Bio
- 产地:奥地利
标准:ASTM E2546 安东帕生物压痕测试仪属于纳米压痕仪,非常适用于表征人体组织和软材料的机械性能。该仪器专为研究软生物材料(如软组织)而设计。凭借生物压痕仪无与伦比的载荷与位移范围和出色的分辨率,可以灵敏地表征软骨、生物组织、支架、水凝胶或眼部组织的弹性模量、蠕变及其他特性。安东帕生物压痕测试仪:专为研究而设计借助安东帕 生物压痕测试仪 ,可以研究得出极软生物材料的机械性能。当涉及到更好地了解人体,以提高诊断水平、开发新药品和进行组织工程等等时,这个尤其重要。针对这
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UNHT³ HTV高温超纳米压痕测试仪
- 品牌:奥地利安东帕
- 型号: UNHT³ HTV
- 产地:奥地利
· 国际标准:符合 ISO 14577 和 ASTM E2546 国际标准高温纳米压痕测试仪是测量小载荷下纳米尺度机械性能的测试系统,温度在 800 °C 以下的薄膜和涂层的硬度和弹性模量。ZG UNHT 技术与独特的加热功能结合,可提供在任何温度下的高稳定性测量解决方案。新一代的高温纳米压痕测试仪·
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NHT³纳米压痕测试仪
- 品牌:奥地利安东帕
- 型号: NHT³
- 产地:奥地利
标准:ASTM E2546 NHT³ 纳米压痕测试仪适合在纳米到微米的尺度下测量硬度、弹性模量、蠕变以及其他表面特性。它的量程为 0.1 mN 至 500 mN,提供最大的通用性。由于独特的表面参比技术,无需等待其达到热稳定状态,开机立即进行仪器压痕测试。“快速点阵”压痕模式可实现高效率(每小时测试量高达 600 个压痕)。简单明了的纳米压痕测量使用安东帕直观的软件,可以轻松定义和分析从标准到高级方法执行的各种仪器压痕测量。集成显微镜提供大的放大倍数,让您能观察到样品表面,从而直接确
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MHT³微米压痕测试仪
- 品牌:奥地利安东帕
- 型号: MHT³
- 产地:奥地利
国际标准:ASTM E2546 根据仪器化压入测试 (IIT) 的要求,微米压痕仪非常适合于对硬度和弹性模量等机械性能的测量。它适用于块状样品和薄膜,从软材料到硬材料(金属、陶瓷、聚合物),可以进行大位移测量(最大 1 mm)。可以根据需求添加划痕测试模式。仪器化压入测试 (IIT) 用于测量硬度和弹性模量· 位移-仪器化压痕:持续测量与施加的载荷和相关的位移,获得材料硬度和弹性模量一台仪器即可进行
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HRE-B维氏压痕测量系统
- 品牌:日本崧泽
- 型号: HRE-B
- 产地:日本
HRE-Basic全自动压痕测量系统 日本崧泽专门为硬度检测配备的全自动压痕测量系统HRE-Basic通过新的图像处理算法,可以不受压痕模糊以及边缘破坏或者亮度变化的影响,得到稳定JZ的硬度值。将压痕清晰的呈现在计算机屏幕上,避免眼睛观察测量的疲劳,消除人工造成的数值误差。 *部分:实时监测菜单自动测量压痕,可选区域测量、手动测量或者连续测量模式,直接得出数值。可实时观察压痕情况,进行拍照储存图像。菜单标识: 「Open」:打开之前保存的图像 「S
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布氏压痕测量系统
- 品牌:北京创诚致佳
- 型号: HTY-BPA
- 产地:海淀区
原装进口红外摄像机及长焦镜头; 单侧红外两分光源,抗干扰能力极强; 优化灰度梯度分析软件,速度快,精度高; 电子变倍数放大功能,一机涵盖全部布氏标尺; 图像解析单位 0.001mm; 软件响应速度<0.1s; 具有存储、统计、生产报告等功能; 进口设备之性能及指标,国产设备之价格。
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Hugetall 便携布氏压痕测量系统HTY-BPA
- 品牌:北京创诚致佳
- 型号: HTY-BPA
- 产地:平谷区
Hugetall 便携布氏压痕测量系统HTY-BPA是一套布氏压痕的光学测量系统,本系统可以使测试更为快速和准确,通过自带的统计分析程序进一步加强质量控制管理。该系统由高分辨率的视频扫描探头和视频图像软件组成,视频图像软件可在Windows环境下操作。
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多功能扫描探针性纳米力学测试仪器
- 品牌:白罗斯MTM
- 型号: NT206
- 产地:其它
多功能扫描探针显微镜,具有压痕与划痕功能,可原位成像,性价比好。
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薄膜应力量测仪Line Card
- 品牌:
- 型号: Line Card
- 产地:美国
薄膜应力量测仪Line Card点击查看大图点击查看大图行业应用:3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌测量Film Stress薄膜应力量测仪FEOL Electrical Characterization 电学特性Thin wafer metrology 晶圆测量学Film Adhesion漆膜附着力测试Global Film Stress AdhesionLocal and Lattice StressThickness, Topography & GeometryContac
- 纳米压痕仪/纳米划痕仪
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