椭偏仪/椭圆偏振仪椭偏仪/椭圆偏振仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高,适用于超薄膜,与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器。椭偏仪/椭圆偏振仪现在已被广泛应用于材料、物理、化学、生物、医药等领域的研究、开发和制造过程中。可测材料:半导体、介电材料、有机高分子聚合物、金属氧化物、多层膜物质和石墨烯等等。
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自动椭圆偏振测厚仪
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型号:TPY-2型
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EM12-PV 精致型多入射角激光椭偏仪(光伏专用)
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Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE
品牌:德国布鲁克
型号:FilmTek 2000 PAR-SE
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光谱椭偏仪
品牌:沈阳科晶
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光谱椭偏仪
品牌:沈阳科晶
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上海致东全光谱椭偏仪
- 品牌:上海致东
- 型号: SE-RD-Z Axis Auto Focus
- 产地:浦东新区
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上海致东全光谱椭偏仪
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上海致东全光谱椭偏仪
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全光谱椭圆偏振测厚仪SE950
- 品牌:上海致东
- 型号: SE950
- 产地:浦东新区
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超声波在线壁厚、偏心测量仪
- 品牌:英国NDC
- 型号: Ultrascan 1012
- 产地:美国
UltraScan壁厚和同心度测量系统Beta LaserMike开发的UltraScan系统可以实现产品壁厚和同心度的在线精确测量,同时该系统也可以用于测量产品的直径和椭圆度。采用超声波技术,UltraScan系统能够在生产过程中实现高速、非接触式的测量。根据不同的应用场合,UltraScan测量系统采用固定式和可调节的传感器距离模式测量各种不同产品的直径和壁厚尺寸。上述各种模式都支持多个传感器测量,并且能够测量多层的直径和壁厚尺寸。应用领域:电线、电缆、医疗管、及其他管材、线绳等检测项目:壁厚、偏心、
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EMPro-PV多入射角激光椭偏仪
- 品牌:北京赛凡
- 型号: EMPro-PV
- 产地:通州区
EMPro-PV是针对光伏太阳能电池高端研发和质量控制领域推出的型多入射角激光椭偏仪,用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面减反膜的厚度、折射率n、消光系数k等参数。融合多项ZL技术,采用一体化样品台技术,兼容测量单晶和多晶太阳电池样品,并实现二者的轻松转换。
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EMPro极致型多入射角激光椭偏仪
- 品牌:北京赛凡
- 型号: EMPro
- 产地:通州区
EMPro是针对高端研发和质量控制领域推出的型多入射角激光椭偏仪。可在单入射角度或多入射角度下进行高精度、高准确性测量。
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HORIBA 椭圆偏振光谱仪
- 品牌:
- 型号: HORIBA
- 产地:法国
HORIBA 椭圆偏振光谱仪
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