高频介电常数介质损耗测试仪

厂商：北京北广精仪仪器设备有限公司

产品简介：介电常数介质损耗测试仪的详细描述：电：  /  介电常数介质损耗测试仪满足标准：GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的

厂商：北京中航时代仪器设备有限公司

产品简介：ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪仪器介绍    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。技术参数　ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为Z新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz。 ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项ling先技术：1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 

厂商：北京北广精仪仪器设备有限公司

产品简介：          产品北广公司核心技术由北广公司严格组建 并有专业的仪器美工专注外观设计 从仪器的研发、生产、销售、售后等 完全承建高新企业体系 。并且研发更高端的试验控制仪器 控制方式完全升级 现研发的微机控制仪器、控制方式采用无线蓝牙*技术 并且可选用 232 / USB/亚太局域网络端口，已是全国* *产品满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损           耗因数的推荐方法。概述：BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。      BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。      测试装置由一个LCD数字显示微测...

厂商：上海皆准仪器设备有限公司

产品简介：高频绝缘材料介电常数/介质损耗测试系统产品名称产品型号高频Q表QBG-3E（10KHz-70MHz）高频Q表QBG-3F（10KHz-110MHz）高频Q表AS2853A+（100KHz-160MHz）介质损耗测试夹具S916电感组LKI-1电感（选配）100Mhz液体杯（选配） USB模块含上位机软件高频Q表三选一测试夹具极片大小二选一（φ38mm和φ50mm）100MHz定制电感仅用在AS2853A+主机高频绝缘材料介电常数/介质损耗测试系统 AS2855高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电

厂商：北京冠测精电仪器设备有限公司

产品简介：介电常数及介质损耗测试仪      编号：GD201310250003 规格：GCSTD-B 高频测量:20KHZ-160MHZ GCSTD-A/ B介电常数及介质损耗测试仪 满足Z新版本国家标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法 一、概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至Z低，并保留了原Q

厂商：北京北广精仪仪器设备有限公司

产品简介：本产品属于厂家直销产品，并且有专业工程师上门培训调试介电常数介质损耗（介质损耗角）测试仪  型号：BDAT-A◇主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品（ 小于 10 mil） 量测值偏低,。 ◇主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定

厂商：北京中航时代仪器设备有限公司

产品简介：ZJD-B/ZJD-C介质损耗介电常数测试仪一、概述ZJD-B高频Q表和ZJD-C高频Q表主要区别 ZJD-BZJD-C测试频率范围10kHz～70MHz100kHz～160MHz主调电容控制传感器马达电容搜索无有ZJD-B/ZJD-C高频Q表能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。ZJD-B介质损耗介电常数测试仪与ZJD-C介质损耗介电常数测试仪是北京中航时代仪器设备有限公司Z新研制的产品，ZJD-B与ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达60MHz /160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。ZJD-B介电常数测

厂商：北京北广精仪仪器设备有限公司

产品简介：介电常数介质损耗测试仪主要技术特性  Q 值测量范围  2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档  固有误差  ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）  工作误差  ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）  电感测量范围  4.5nH ～ 140mH  电容直接测量范围  1 ～ 200pF  主电容调节范围  18 ～ 220pF  主电容调节准确度  100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％  信号源频率覆盖范围  100kHz ～ 160MHz  频率分段 （ 虚拟 ）  100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,1

厂商：北京亚欧德鹏科技发展有限公司

产品简介：数字Q表,介质损耗,介电常数仪型号:DP-Y2852ADP-Y2852A 数字Q表是一款测试频率1kHz～70MHz的多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理，以电压比值刻度Q值的。它能测量高频电感器的Q值，电感量和分布电容量；电容器的电容量和损耗角。配以专用介质损耗装置还能对绝缘材料的高频介质损耗（tanδ）和介电常数(ε)，进行自动计测。本Q表依照国家计量检定规程：“JJF1073-2000高频Q表校准规范”执行。1 特点：◎ 全数字处理和显示，革除传统Q表的电容刻度盘，实现任意频率点测试L值和Q值。◎ 本公司创新的自动Q值读取技术，使测Q分辨率至0.1Q。◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz,测试信号。◎ 低至20nH残余电感，保证高频时直读Q值的误差较小。◎ TFT彩频多参数显示：测试频率，电容值，电感值，Q值，ε和tanδ等。◎ Q值量程自动/手动量程控

厂商：北京美华仪科技有限公司

产品简介：数字Q表,介质损耗,介电常数仪 型号:MHY-15745 MHY-15745 数字Q表是一款测试频率1kHz～70MHz的多功能、多用途、多量程数字化 阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理，以电压比值刻度Q值的。它能测量高频电感 器的Q值，电感量和分布电容量；电容器的电容量和损耗角。配以专用介质损耗装置 还能对绝缘材料的高频介质损耗（tanδ）和介电常数(ε)，进行自动计测。本Q表依照 国家计量检定规程：“JJF1073-2000高频Q表校准规范”执行。1 特点：◎ 全数字处理和显示，革除传统Q表的电容刻度盘，实现任意频率点测试L值和Q值。◎ 本公司创新的自动Q值读取技术，使测Q分辨率至0.1Q。◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz,测试信号。◎ 低至20nH残余电感，保证高频时直读Q值的误差较小。◎ TFT彩频多参数显示：测试频率，电容值，电感值，Q值，ε和tanδ等。◎ Q值量程自动