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- 品牌:中航时代
- 型号: 工频介电常数测试仪
- 产地:北京市房山区经济技术开发区顾八路1号
- 供应商:北京中航时代仪器设备有限公司
产品一、概述 ZJD-C介质损耗及介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。 ZJD-C介质损耗及介电常数测试仪是中航时代公司Z新研制的产品。它以DDS数字直接合成方式产生信号源,频率达160MHz,信号源具有信号失真小,频率精确、信号幅度稳定的优点,更保证了测量精度的精确性,主电容调节用步进马达控制,频率和电容值可设置,电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示。在某一频率下,只要能找到谐振点,都能直接读出电感、电容值,大大扩展了电感的测量范围,而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。ZJD-C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能,能帮助你在使用时快...
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HCJDCS-B 高频介电常数介质损耗测试仪、北京华测厂家直销
- 品牌:华测
- 型号: HCJDCS-B
- 产地:北京市海淀区信息路2号
产品、北京华测厂家直销产品、北京华测厂家直销产品简介高频介损及介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。主要用于测量玻璃、陶瓷等材料在高频信号下的介损、介电常数。 HCJS-A高频介损及介电常数测试仪。规格型号HCJDCS-BHCJDCS-AHCJDCS-C工作频率范围50kHz~50MHz四位数显,压控振荡器1kHz~70MHz四位数显,数字合成50kHz~160MHz四位数显,数字合成Q值测量范围1~1000三位数显,±1Q分辨率5~599四位数显,±0.1Q分辨率1~1000四位数显,±0.1Q分辨率可调电容范...
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HCJDCS-B 全自动测量、高频介电常数介质损耗测试仪
- 品牌:华测
- 型号: HCJDCS-B
- 产地:北京市海淀区信息路2号
全自动测量、产品全自动测量、产品产品简介高频介损及介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。主要用于测量玻璃、陶瓷等材料在高频信号下的介损、介电常数。 HCJS-A高频介损及介电常数测试仪。规格型号HCJDCS-BHCJDCS-AHCJDCS-C工作频率范围50kHz~50MHz四位数显,压控振荡器1kHz~70MHz四位数显,数字合成50kHz~160MHz四位数显,数字合成Q值测量范围1~1000三位数显,±1Q分辨率5~599四位数显,±0.1Q分辨率1~1000四位数显,±0.1Q分辨率可调电容范围40~...
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GDAT-A 塑料材质高频介电常数介质损耗测试仪厂家
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塑料材质产品厂家技术指标 1.Q值测量 a.Q值测量范围:2~1023。 b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c.标称误差项 目GDAT-A频率范围20kHz~10MHz;固有误差≤5%工作误差≤7%频率范围10MHz~60MHz;固有误差≤6%工作误差≤8% 2.电感测量范围:14.5nH~8.14H 3.介电常数介质损耗试验仪电容测量:1~ 460配件尺寸:1、平板电容器:极片尺寸:∅25.4mm/∅38mm 可选(其他尺寸定做)极片间距可调范围:≥15mm2、夹具插头间距:25mm±0.01mm3、夹具损耗正切值≤4*10-4(1MHZ)4、测微杆分辨率:0.001mm项 目 GDAT-A直接测量范围1~460pF 主电容调节范围 准确度 30~500pF 150pF以...
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GDAT-A 高频介电常数介质损耗测试仪
- 型号: GDAT-A
产品满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法产品一、 概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量...
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HCJDCS-A 抗震性能好、高频介电常数介质损耗测试仪
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抗震性能好、产品抗震性能好、产品产品简介高频介损及介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。主要用于测量玻璃、陶瓷等材料在高频信号下的介损、介电常数。 HCJS-A高频介损及介电常数测试仪。规格型号HCJDCS-BHCJDCS-AHCJDCS-C工作频率范围50kHz~50MHz四位数显,压控振荡器1kHz~70MHz四位数显,数字合成50kHz~160MHz四位数显,数字合成Q值测量范围1~1000三位数显,±1Q分辨率5~599四位数显,±0.1Q分辨率1~1000四位数显,±0.1Q分辨率可调电容范围40~...
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HCJDCS-C 中文打印输出、高频介电常数介质损耗测试仪
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- 型号: HCJDCS-C
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中文打印输出、产品中文打印输出、产品产品简介高频介损及介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。主要用于测量玻璃、陶瓷等材料在高频信号下的介损、介电常数。 HCJS-A高频介损及介电常数测试仪。规格型号HCJDCS-BHCJDCS-AHCJDCS-C工作频率范围50kHz~50MHz四位数显,压控振荡器1kHz~70MHz四位数显,数字合成50kHz~160MHz四位数显,数字合成Q值测量范围1~1000三位数显,±1Q分辨率5~599四位数显,±0.1Q分辨率1~1000四位数显,±0.1Q分辨率可调电容范围40...
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HCJDCS-C 抗干扰能力强高频介电常数介质损耗测试仪
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抗干扰能力强产品抗干扰能力强产品产品简介高频介损及介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。主要用于测量玻璃、陶瓷等材料在高频信号下的介损、介电常数。 HCJS-A高频介损及介电常数测试仪。规格型号HCJDCS-BHCJDCS-AHCJDCS-C工作频率范围50kHz~50MHz四位数显,压控振荡器1kHz~70MHz四位数显,数字合成50kHz~160MHz四位数显,数字合成Q值测量范围1~1000三位数显,±1Q分辨率5~599四位数显,±0.1Q分辨率1~1000四位数显,±0.1Q分辨率可调电容范围4...
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HCJDCS-A 高频介电常数介质损耗测试仪
- 品牌:华测
- 型号: HCJDCS-A
- 产地:北京市海淀区信息路2号
产品产品产品简介介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。主要用于测量玻璃、陶瓷等材料在高频信号下的介损、介电常数。 HCJS-A高频介损及介电常数测规格型号HCJDCS-BHCJDCS-AHCJDCS-C工作频率范围50kHz~50MHz四位数显,压控振荡器1kHz~70MHz四位数显,数字合成50kHz~160MHz四位数显,数字合成Q值测量范围1~1000三位数显,±1Q分辨率5~599四位数显,±0.1Q分辨率1~1000四位数显,±0.1Q分辨率可调电容范围40~500 pFΔC±3pF40~500 pFΔC±...
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GDAT-A 高频介电常数介质损耗测试仪
- 品牌:北广精仪仪器
- 型号: GDAT-A
- 产地:北京
介电常数介质损耗测试仪的详细描述:电: / 介电常数介质损耗测试仪满足标准:GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1.测试注意事项a.本仪器应水平安放;b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的
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高频介电常数介质损耗测试仪
- 品牌:中航时代
- 产地:北京市房山区经济技术开发区顾八路1号
ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪仪器介绍 ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。技术参数 ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为Z新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz。 ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项ling先技术:1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 –