【概述】
某实验室非饱和加速老化试验箱在开展高分子材料老化试验时，低温段（设定-20℃）出现失控现象，温度无法降至设定值，升至5℃且波动剧烈，触发设备温湿度异常报警，导致试验中断、样品状态受影响。经排查，确定故障根源为制冷系统制冷剂泄漏、干燥过滤器堵塞及温度传感器漂移，通过补漏、更换配件、校准调试等操作，设备恢复正常，试验顺利重启。
【实验/设备条件】
试验设备为HAST非饱和加速老化试验箱，内箱容积Φ300×D450mm，温度范围105℃~132℃（低温扩展至-40℃~80℃），温湿度波动度±0.5℃/±2.5%RH；试验环境为实验室常温25℃±2℃，无阳光直射、无强热源干扰；故障时设备正运行低温老化试验，设定温度-20℃，湿度65%RH，试验时长1000h，已运行320h。
【样品提取】
故障发生后，立即停止试验，关闭设备电源，待箱内温度自然升至常温（约2h）后，佩戴防护手套提取箱内高分子材料样品。共提取样品8件，均密封保存，观察发现样品表面无明显破损、凝露痕迹，暂存于干燥恒温环境（25℃，50%RH），待设备修复后重新开展试验，避免样品二次受损。
【实验/操作方法】
1. 故障排查：先检测制冷系统压力，低压端压力0.2MPa（低于标准0.4MPa），判断制冷剂泄漏；用肥皂水涂抹管路接口，找到冷凝器与蒸发器连接处泄漏点；检查干燥过滤器，发现外壳结霜、温度异常，判定内部分子筛失效堵塞；校准温度传感器，发现电阻值漂移超出正常范围。2. 维修操作：补焊泄漏点，抽真空1.5h后，按设备铭牌标注充注R404A制冷剂；更换干燥过滤器及同型号温度传感器，重新接线并固定；清理冷凝器翅片灰尘，确保散热通畅。3. 验证测试：空载运行3个温度循环（-40℃~80℃），监测降温速率及温度稳定性；负载样品后，设定-20℃、65%RH，连续运行24h，每5分钟记录一次温湿度数据。
【实验结果/结论】
维修后，设备低温段控温，-20℃设定下温度波动控制在±0.5℃以内，无失控现象；制冷系统压力恢复正常（低压端0.45MPa），无泄漏、结霜情况；温度传感器数据传输稳定，设备报警系统未再触发。结论：本次低温段失控由制冷系统制冷剂泄漏、干燥过滤器堵塞及温度传感器漂移共同导致，采用补漏、更换配件、校准调试的维修方案有效，设备可恢复正常试验使用，维修后试验数据符合GB/T 2423相关标准要求。
【仪器/耗材清单】
仪器：压力表、真空泵、万用表、温度校准仪、焊枪、毛刷；耗材：R404A制冷剂、干燥过滤器、温度传感器（同型号）、焊锡、肥皂水、无水乙醇、绝缘胶带、防护手套。
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