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用户论文：录音带的表面形貌和微摩擦特性研究

本原纳米仪器公司更新于：2006-08-04

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全文请访问：http://www.spm.com.cn/papers/p42.pdf 利用原子力/摩擦力显微镜研究了进口Sony，TDK和国产Nature,Top，ZZZ录音带的表面形貌及纳米级载荷下的微摩擦性能试验结果表明：3种国产带的粗糙度和粒度与进口Sony和TDK带相当；Sony带的微摩擦力大于同样载荷下Nature带，且其摩擦系数也略大于Nature带微摩擦力与表面形貌斜率间有较好的对应关系；摩擦力随载荷表面形貌斜率及表面粘着力的增加而增大全文请访问：http://www.spm.com.cn/papers/p42.pdf 扫描探针显微镜(SPM/AFM/STM)

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