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用户论文：原子力/摩擦力显微图象的分析与测量

本原纳米仪器公司更新于：2006-08-07

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"全文请访问：http://www.spm.com.cn/papers/p49.pdf 用表面粗糙度评定方法和分形几何方法, 结合原子力ˆ摩擦力显微图象的特点, 编制了包括Ra , Rq, Sm , S, Ka , Kq 及高度分布承载率曲线相关函数功率谱和分形维数等参数的图象分析与测量的FORTRAN 程序; 用STR2180和STR21000标样作了高度标定, 对国产Nature 磁带和进口Sony 磁带的原子力ˆ摩擦力显微图象进行了分析测量. 结果表明:Nature 磁带的粗糙度和粒度均比Sony 磁带的大; 微摩擦力与表面轮廓及表面轮廓斜率之间均有良好的对应关系. 全文请访问：http://www.spm.com.cn/papers/p49.pdf" 扫描探针显微镜(SPM/AFM/STM)

内容节点: 概述; 实验/设备条件; 样品提取; 实验/操作方法; 实验结果/结论; 仪器/耗材清单

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