X射线衍射全谱拟合法测定碳/碳复合材料的点阵常数

利用X射线衍射仪,采用全谱拟合的方法,测定三种不同碳材料的点阵常数石墨化度及微晶参数,测得三种碳材料(每个样品重复5次试验)六方晶系的a的标准偏差小于2. 0 ×10- 3 , c的标准偏差小于14 ×10- 3 ,石墨化度( g)的标准偏差小于1. 5,微晶参数(Lc 002 )的标准偏差小于0. 5,是一种有效的测试碳材料晶体参数的方法 XRD-XRF集成分析仪 便携式X射线衍射仪（XRD）Terra 小型台式X射线衍射仪XRD-BTX